安捷倫科技（AgilentTechnologiesInc.）宣布，已經(jīng)將*整合的1.1THz網(wǎng)絡(luò)分析量測解決方案交貨給日本山口大學(xué)（YamaguchiUniversity）。該解決方案包括VirginiaDiodes公司的頻率延伸模塊WR-01，以及安捷倫的50GHzPNA-X向量網(wǎng)絡(luò)分析儀，以協(xié)助山口大學(xué)進行THz級頻率的超常材料（metamaterials）研究。
　　
　　電磁頻譜的THz范圍，在高數(shù)據(jù)速率通訊、*電子材料光譜學(xué)、太空研究、醫(yī)療、生物、監(jiān)管及遠程感測上，有極大的應(yīng)用潛力。盡管如此，THz范圍在頻譜領(lǐng)域中仍尚未被深入探索。再者，高功率的THz訊號源在THz頻率范圍內(nèi)，過于依賴具有有利特性的材料，因此材料研究遂成為的THz系統(tǒng)相當重要的一環(huán)。
　　
　　安捷倫整合的量測解決方案足以解決該挑戰(zhàn)，其能準確量測新材料中的THz訊號。該信息對于山口大學(xué)成功進行材料研究有極大的幫助。
　　
　　安捷倫的解決方案采用VirginiaDiodes公司所生產(chǎn)的*款*校驗、750GHz到1.1THz的頻率延伸模塊WR-01，以及安捷倫的能50GHzPNA-X向量網(wǎng)絡(luò)分析儀。這些儀器以優(yōu)于50dB的動態(tài)范圍，提供*校驗的向量網(wǎng)絡(luò)分析量測。
　　
　　使用者首度可以利用PNA-X的校驗技術(shù)，來執(zhí)行穩(wěn)定可靠的THz量測。該儀器的動態(tài)范圍，可確保用戶輕易地達到高靈敏度的量測。由于頻率延伸模塊提供750GHz到1.1THz的頻率作業(yè)范圍，因此用戶在擷取較高分辨率的影像時同樣輕而易舉。
　　
　　安捷倫的PNA-X向量網(wǎng)絡(luò)分析儀，提供從射頻到毫米波的廣泛量測應(yīng)用范圍。
　　
　　山口大學(xué)位于日本Ube市。針對材料在THz頻率下的特性進行分析，是該?？茖W(xué)與工程學(xué)院正進行的研究的一部份。