中國(guó)科學(xué)院山西煤炭化學(xué)研究所、中國(guó)科學(xué)院化學(xué)研究所分別在今年7月、11月與島津簽訂了配置的X射線光電子能譜儀（XPS）的訂單。兩臺(tái)儀器分別用于催化劑原位研究及固體表面有機(jī)/金屬沉積薄膜分析。
　　
　　針對(duì)科學(xué)院的高水平分析需求，配置了Ar/C24H12雙模式離子槍，該離子槍的C24H12離子源可實(shí)現(xiàn)不改變有機(jī)材料化學(xué)狀態(tài)的深度剖析，避免以往Ar離子源刻蝕導(dǎo)致有機(jī)材料化學(xué)狀態(tài)改變的弊端。特別值得一提的是，國(guó)內(nèi)采用無損深度剖析重構(gòu)軟件，能夠在不使用離子源對(duì)樣品進(jìn)行刻蝕的情況下分析樣品的表面深度信息結(jié)構(gòu)，目前該軟件的用戶已經(jīng)在雜志上發(fā)表了數(shù)篇出色研究成果。
　　
　　島津/KRATOS高性能成像X射線光電子能譜儀AXIS-ULTRADLD型，采用合理設(shè)計(jì)的雙層能量分析器，既可獲得高能量分辨和高靈敏度的XPS譜，也可以在數(shù)秒至數(shù)十秒的時(shí)間內(nèi)得到空間分辨優(yōu)于3μm的高分辨元素化學(xué)狀態(tài)像，是真正的成像XPS；結(jié)合*的新一代二維陣列延遲線檢測(cè)器（DelayLineDetector），可以對(duì)樣品進(jìn)行超快速分析，并實(shí)現(xiàn)快拍采譜（SnapShot）和從圖得譜（SpectrafromImages）等功能。使用特殊設(shè)計(jì)的虛擬探針技術(shù)，若在圖像上以鼠標(biāo)點(diǎn)擊分析位置，則無需移動(dòng)樣品，便可進(jìn)行zui小至15μm微小區(qū)域的多點(diǎn)譜分析。正因?yàn)閸u津XPS儀器本身技術(shù)的*性，中科院化學(xué)所采用單一來源采購(gòu)的方式與島津公司簽訂了采購(gòu)合同。　　
　　島津/KRATOSAXIS-ULTRADLD型高性能成像X射線光電子能譜儀
　　
　　相信代表中國(guó)科研前沿的中國(guó)科學(xué)院研究所相繼引進(jìn)島津XPS，必將推動(dòng)XPS在相關(guān)領(lǐng)域的研發(fā)水平，為中國(guó)科技實(shí)力提升貢獻(xiàn)更多力量。