摘要 PCT高壓加速壽命試驗(yàn)箱的工作原理是通過提供高壓蒸汽，使試驗(yàn)樣品暴露在惡劣條件下，以模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境中可能出現(xiàn)的氣候變化、潮濕度以及腐蝕性氣體等因素。通過不斷重復(fù)的蒸汽、冷卻循環(huán)，使產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷長(zhǎng)時(shí)間的老化過程，以評(píng)估其在惡劣環(huán)境中的耐久性。

摘要 PCT高壓老化試驗(yàn)箱是一種重要的設(shè)備，用于模擬高溫高濕環(huán)境，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行老化試驗(yàn)和可靠性評(píng)估。其高品質(zhì)的材料和的技術(shù)保證了試驗(yàn)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。通過PCT老化試驗(yàn)箱的使用，可以有效提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，滿足現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的要求。

摘要PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子、電器、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域，用于對(duì)各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠性和耐久性的評(píng)估。例如，在電子行業(yè)中，PCT老化試驗(yàn)箱可以用于測(cè)試電子元件、半導(dǎo)體芯片、電路板等在高溫高濕環(huán)境下的工作狀態(tài)和可靠性；在汽車行業(yè)中，可以用于測(cè)試汽車零部件的耐久性和性能...

摘要 PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱采用高品質(zhì)的材料和的技術(shù)，以確保試驗(yàn)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。箱體采用厚重的不銹鋼材料制造，具有優(yōu)異的耐腐蝕性和強(qiáng)度，能夠承受高溫和高濕的試驗(yàn)環(huán)境。同時(shí)，裝備有的溫濕度控制系統(tǒng)，可以精確控制試驗(yàn)過程中的溫度和濕度變化，保證試驗(yàn)的穩(wěn)定性和可靠性。

摘要PCT高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測(cè)試其制品的耐厭性...

摘要PCT加速老化試驗(yàn)箱是一種專門用于模擬環(huán)境條件，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行老化試驗(yàn)的設(shè)備。在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，各種產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是十分重要的，而產(chǎn)品的老化試驗(yàn)則是評(píng)估其可靠性和耐用性的重要手段。PCT試驗(yàn)箱通過模擬高溫高濕的環(huán)境，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定的老化試驗(yàn)，以驗(yàn)證其耐用性和性能表...

摘要 PCT老化試驗(yàn)箱是一種專門用于模擬環(huán)境條件，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行老化試驗(yàn)的設(shè)備。在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，各種產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是十分重要的，而產(chǎn)品的老化試驗(yàn)則是評(píng)估其可靠性和耐用性的重要手段。PCT試驗(yàn)箱通過模擬高溫高濕的環(huán)境，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定的老化試驗(yàn)，以驗(yàn)證其耐用性和性能表現(xiàn)。

摘要 艾思荔復(fù)合材料冷熱沖擊試驗(yàn)箱全新美觀的圓弧造型設(shè)計(jì),高質(zhì)感外觀,美觀大方，外箱采用霧面線條處理SUS304#不銹鋼板。周全的安全保護(hù)裝置，發(fā)生任何故障時(shí)，均由立即由屏幕顯示故障狀態(tài)及切斷電源，確保機(jī)器本身,被測(cè)產(chǎn)品及使用者安全。

摘要 芯片-HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要芯片-HAST高溫高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一...

摘要 芯片-HAST老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要芯片-HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)電子元器件和材料進(jìn)行快速老化測(cè)試的設(shè)備。它主要通過提高溫度和濕度來(lái)模擬惡劣環(huán)境條件，從而加速產(chǎn)品老化過程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，以及相對(duì)...

摘要 濕度傳感器冷熱沖擊試驗(yàn)箱特的BTC平衡調(diào)溫方式，穩(wěn)定平衡的加熱能力，調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境，進(jìn)行高精度高穩(wěn)定溫度控制，具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的功能，操作簡(jiǎn)單，產(chǎn)品性能優(yōu)異，外觀美觀，可靠性好，是實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的理想選擇。

摘要印刷電路板（PCB）-HAST老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備...

摘要印刷電路板（PCB）-HAST高溫蒸煮試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)...

摘要 通信模塊-HAST高溫蒸煮試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 通信模塊-HAST高壓老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 通信模塊-HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要通信模塊-HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一...

摘要通信模塊-HAST高溫高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備...

摘要通信模塊-HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)電子元器件和材料進(jìn)行快速老化測(cè)試的設(shè)備。它主要通過提高溫度和濕度來(lái)模擬惡劣環(huán)境條件，從而加速產(chǎn)品老化過程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，以及相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%的條件...

摘要 通信模塊-HAST老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要艾思荔藍(lán)牙鍵盤冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫濕度控制儀表采用進(jìn)口TEMI880,LED觸摸屏操作簡(jiǎn)單，程式編輯容易，無(wú)須按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項(xiàng)。具有自動(dòng)演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為穩(wěn)定。符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-...

摘要貼片燈冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制器：進(jìn)口中文界面TEMI彩色液晶觸摸屏可編程溫濕度控制儀。制冷系統(tǒng)：進(jìn)口法國(guó)“泰康”制冷壓縮機(jī)，進(jìn)口環(huán)保冷煤。R404R23安全保護(hù)裝置：超溫保護(hù)、欠相缺相保護(hù)、附有無(wú)熔絲保護(hù)開關(guān)、壓縮機(jī)高、低壓保護(hù)、壓縮機(jī)過熱保護(hù)、系統(tǒng)過電流負(fù)載保護(hù)、無(wú)溶絲...

摘要艾思荔變壓器冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用彩色觸摸式10.4吋液晶螢?zāi)豢刂破?，由溫度感?yīng)器傳送信號(hào)，再以微電腦自動(dòng)驅(qū)動(dòng)S.S.R. 控制冷,熱溫度，內(nèi)部動(dòng)作程序由 P.L.C.與控制器連線控制，防止誤動(dòng)作；具有斷電記憶功能,可選擇冷起熱起中斷之功能,以利復(fù)電後繼續(xù)執(zhí)行未完成之試驗(yàn)...

摘要艾思荔硅膠冷熱沖擊試驗(yàn)箱外殼均采用TSUTS304#不銹鋼鋼板、數(shù)控機(jī)床加工成型，外殼表面進(jìn)行噴塑處理，更顯光潔、美觀;內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼(TSUTS304#)鏡面板;門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測(cè)試區(qū)的密閉;采用無(wú)反作用門把手，操作更容易;觀察窗采...

摘要 艾思荔攝像頭冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用進(jìn)口薄摸按鍵式人機(jī)介面溫度控制器，進(jìn)口全封閉式壓縮機(jī)，整機(jī)性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便，易于安裝，控制技術(shù)達(dá)到目前水平、性價(jià)比明顯優(yōu)于同類進(jìn)口設(shè)備，是試驗(yàn)箱的理想設(shè)備。

摘要艾思荔油漆冷熱沖擊試驗(yàn)箱箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼(SUS304)鏡面板，箱體外膽采用su304鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。溫度控制采用進(jìn)口RKC數(shù)顯觸摸按鍵，觸控式設(shè)定、數(shù)位及直接顯示，溫度控制輸出功率均由P.I.D微電腦演算，以達(dá)高精度及高效率之用電效益。如發(fā)生...

摘要 東莞HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 東莞HAST高溫高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 東莞HAST老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要東莞HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)電子元器件和材料進(jìn)行快速老化測(cè)試的設(shè)備。它主要通過提高溫度和濕度來(lái)模擬惡劣環(huán)境條件，從而加速產(chǎn)品老化過程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，以及相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%的條件下進(jìn)行...

摘要 東莞HAST非飽和老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 HAST非飽和老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 HAST高溫蒸煮試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 HAST高壓老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 國(guó)產(chǎn)HAST試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 HAST高溫高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要 車載逆變器冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制器：操作界面：液晶觸摸顯示屏,中英文切換(進(jìn)口TEMI880)運(yùn)轉(zhuǎn)方式：恒定運(yùn)轉(zhuǎn),程序運(yùn)轉(zhuǎn)程序記憶容量：120組可編程序,每個(gè)程序大999段分辯率：溫度:0.1℃;濕度:0.1%RH

摘要 HAST老化試驗(yàn)箱是一種高溫高濕老化試驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試領(lǐng)域。它通過模擬實(shí)際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測(cè)試周期短、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，是目前常用的老化試驗(yàn)設(shè)備之一。

摘要廣東艾思荔檢測(cè)儀器產(chǎn)銷機(jī)頂盒冷熱沖擊試驗(yàn)箱，溫度范圍可從零下幾十度的溫度調(diào)到高溫150℃，溫度穩(wěn)定，性能精密。設(shè)備采上方排熱方式，節(jié)省機(jī)臺(tái)所占用之空間及達(dá)到散熱效果。采用P.P非金屬斷熱隔熱材質(zhì)之門縫設(shè)計(jì)，可減少四分之一以上能源浪費(fèi)及控制效果。輕巧便易之前方加水補(bǔ)給方...

摘要HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱通常能夠在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)模擬出類似于長(zhǎng)時(shí)間自然老化過程的效果。它采用高溫高濕的環(huán)境條件，通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，并且相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%。這種條件下，HAST試驗(yàn)箱可以加速電子元器件和材料的老化...

摘要HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)電子元器件和材料進(jìn)行快速老化測(cè)試的設(shè)備。它主要通過提高溫度和濕度來(lái)模擬惡劣環(huán)境條件，從而加速產(chǎn)品老化過程。通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，以及相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%的條件下進(jìn)行測(cè)試。這種條件下，試...