BSX 系列 BERTScope® 誤碼率測(cè)試儀從復(fù)雜到簡捷
快速發(fā)展的市場要求使用更快的 Rx 測(cè)試流程和工作流程。BSX 系列 BERTScope 是實(shí)現(xiàn)*性的zui快途徑。這個(gè)新 BERT 接收機(jī)測(cè)試解決方案具有*功能,消除了接收機(jī)測(cè)試的復(fù)雜性,并給 Gen3/4 設(shè)計(jì)帶來置信度。
- 用于接收機(jī)加壓測(cè)試、調(diào)試和*性的單個(gè)解決方案。
- 自動(dòng) Rx *性測(cè)試,適用于 Gen3/4 標(biāo)準(zhǔn):PCIe、SAS/SATA、USB、DisplayPort + 自定義標(biāo)準(zhǔn)。
- 支持高達(dá) 32 Gb/s 的數(shù)據(jù)速率和 DUT 握手。
- 行業(yè)中zui*的比特誤差分析可捕獲和存儲(chǔ)每個(gè)錯(cuò)誤的背景(時(shí)序及比特位置)。
- 觀察設(shè)備對(duì)環(huán)回和鏈路調(diào)訓(xùn)測(cè)試箱的響應(yīng)。
BSX 系列 BERTScope® 誤碼率測(cè)試儀特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì):
特點(diǎn) | 優(yōu)勢(shì) |
從 1 Gb/s 到 32 Gb/s 的模式生成和 BER 測(cè)量。 | 由于在zui大速率條件下連續(xù)操作不需要外部多路復(fù)用器/解復(fù)用器,DUT 握手可支持廣泛的標(biāo)準(zhǔn)。 |
集成和校準(zhǔn)損傷用于受壓接收機(jī)測(cè)試。 | 包括抖動(dòng)和干擾在內(nèi)的損傷可進(jìn)行實(shí)時(shí)更改,并且可通過多種方式進(jìn)行控制,包括一個(gè)供用戶快速更改壓力級(jí)別和確定接收器公差限值的前面板旋鈕。 |
針對(duì) PCI Express Gen3 和 Gen4 以及 USB3.1 Gen1 和 Gen2 的鏈路調(diào)訓(xùn)支持。 | 對(duì) DUT 請(qǐng)求的快速均衡響應(yīng)可支持針對(duì) PCIe Gen4 及更高版本的鏈路訓(xùn)練*性測(cè)試。 |
選配的內(nèi)置 4-tap Tx 均衡,用于對(duì)模式發(fā)生器提供的數(shù)據(jù)進(jìn)行用戶可控制的去加重操作。 | 支持?jǐn)?shù)據(jù)速率高達(dá) 32 Gb/s 下的碼型發(fā)生器 Tx 均衡,以滿足廣泛的標(biāo)準(zhǔn)要求。 |
協(xié)議感知和面向位的模式序列器支持多達(dá) 128 種狀態(tài)和兩級(jí)循環(huán)嵌套。 | 協(xié)議感知定序模式簡化了客戶對(duì)模式存儲(chǔ)器的輸入,無需在模式編輯器中應(yīng)用協(xié)議處理(加擾、DC 平衡、跳過插入)。因?yàn)橛布杀3旨訑_/DC 平衡狀態(tài),進(jìn)行定序器狀態(tài)間過渡時(shí)可無需考慮數(shù)據(jù)拼接問題。 |
四個(gè)用戶可編程的檢測(cè)器模式匹配器,長度達(dá) 128 位。 | 通過基于協(xié)議的檢測(cè)器模式匹配,用戶可以基于從 DUT 接收的消息來遞增模式序列器(或生成觸發(fā)信號(hào)),以創(chuàng)建真實(shí)的激勵(lì)/響應(yīng)測(cè)試條件。 |
錯(cuò)誤位置分析,其中包括模式靈敏度直方圖。 | BSX 系列可提供行業(yè)內(nèi)*的復(fù)雜位錯(cuò)誤分析程序,以捕獲和存儲(chǔ)每個(gè)錯(cuò)誤的上下文(時(shí)序和位位置)。借助各種錯(cuò)誤分析工具,以*的洞察力查明導(dǎo)致誤碼率問題的根源。例如,圖案靈敏度直方圖允許用戶將錯(cuò)誤與測(cè)試模式中的特定位相關(guān)聯(lián)。 |
前向糾錯(cuò) (FEC) 仿真。 | 在 BER 測(cè)試期間收集的錯(cuò)誤位置信息允許用戶分析 FEC 之前和之后的誤碼率,以快速確定特定 FEC 實(shí)現(xiàn)方案的有效性,并從未校正的 BER 測(cè)量值預(yù)測(cè)經(jīng)過校正的 BER 結(jié)果。 |
將 BER 相關(guān)眼圖與測(cè)量和分析功能相集成。 | 通過快速查看輸入信號(hào)的眼圖,幫助用戶發(fā)現(xiàn)導(dǎo)致同步問題的原因,從而改善不同于其他 BERT 的調(diào)試體驗(yàn)。通過在輪廓模式中在眼圖上縮放和覆蓋 BER 結(jié)果的功能,可以詳細(xì)深入分析 BER 余量。 |