電磁式薄膜測(cè)厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號(hào):WBLE-200J | 貨號(hào):ZH6918 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 本儀器采用了磁性測(cè)厚方法,可損的測(cè)量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)。 內(nèi)置打印機(jī),可打印數(shù)據(jù),有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能。 測(cè)定方法:電磁式 測(cè)定對(duì)象:磁性金屬上非磁性涂鍍層 測(cè)定范圍:0~1500um或0~60.0mils 測(cè)定精度:<15um±0.3um >15um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值 測(cè)試單位:公/英制互換 顯示方式:LCD數(shù)顯 操作面板:密封防水按鍵 附屬品:鐵基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說(shuō)明書(shū) 電源:DV3V 主機(jī)5#堿性電池×6個(gè) 打印機(jī)5#堿性電池×4個(gè) 體積:80(W)×80(D)×30(H) 重量:1100g |