液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢
液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)
GJB150.4-86 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GJB150.3-86 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
IEC68-2-14 試驗(yàn)N:溫度變化
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB 2423-22環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗(yàn)方法
MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法
主要參數(shù)
n溫度暴露范圍:+60℃ ~ +150℃/-65℃ ~ 0℃
n測(cè)試時(shí)間: ≥10min
n溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:≥30S
n測(cè)試方式:試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中
型號(hào) | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中,通過(guò)樣品籃的移動(dòng)到達(dá)低溫或高溫槽內(nèi) | |
試驗(yàn)樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 |
預(yù)冷溫度范圍 | -70℃~0℃ | |
預(yù)熱溫度范圍 | +60℃~+200℃ | |
溫度沖擊范圍 | -40℃~+150℃/-65℃~+150℃ | |
測(cè)試時(shí)間 | ≥10 mins | ≥10 mins |
轉(zhuǎn)換移動(dòng)時(shí)間 | ≤30s | |
溫度偏差 | ±1.0℃ | |
溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | |
溫度波動(dòng)度 | ±1.0℃ | |
使用電源 | AC 3¢5W 380V 60/50Hz |