SRP-4牛津面銅測量探頭配套于CMI760和CMI563;微電阻原理;用于精確測量表面鍍銅厚度。牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭,綜合運用微電阻原理及溫度補償技術,使其成為世界上推出帶溫度補償功能的銅箔測厚儀的制造商。
SRP-4牛津面銅測量探頭廠家報價銅厚測量范圍:
化學銅:0.25μm–12.7μm(10μin–500μin)
電鍍銅:2.5μm–152μm(0.1mil–6mil)
線形銅可測試線寬范圍:203μm–6350μm(8mil–250mil)
準確度:±5%參考標準片
精確度:化學銅:標準差0.2%;
電鍍銅:標準差0.3%;
分辨率:0.01mils≥1 mil,0.001mils<1mil,0.1μm≥10μm,0.01μm<10μm,0.001μm<1μm
SRP-4牛津面銅測量探頭廠家報價探頭特點:
應用*的微電阻測試技術。系繩式探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負極;測量時,電流由正極到負極會有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數關系準確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換,為牛津儀器產品。探頭的照明功能和保護罩方便測量時準確定位。
SRP-4牛津面銅測量探頭廠家報價CMI 760配置包括:
• CMI 760主機
• SRP-4探頭
• SRP-4探頭替換用探針模塊(1個)
• NIST認證的校驗用標準片