美國(guó)博曼（Bowman）BA100系列MFF型鍍層測(cè)厚儀按照應(yīng)用的不同擁有多種不同的稱謂：鍍層膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳測(cè)厚儀、支架測(cè)厚儀、X-Ray測(cè)厚儀、金厚測(cè)試儀、銀層測(cè)厚儀、臺(tái)式膜厚儀、X射線測(cè)厚儀、測(cè)厚儀、膜厚儀等。
A100系列MFF型鍍層測(cè)厚儀:美國(guó)博曼BA100系列多準(zhǔn)直器固定臺(tái)鍍層測(cè)厚儀，是原CMI公司的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在2000年被牛津儀器收購(gòu)后整體重新組建的K alpha公司，經(jīng)過多年的醞釀、研發(fā)并于2010年發(fā)布的Bowman品牌的鍍層測(cè)厚儀；廣泛應(yīng)用于如下領(lǐng)域：PCB、FPC、SMT、LED、連接器、端子、緊固件、五金、汽車零部件、衛(wèi)浴等行業(yè)。主要用于產(chǎn)品鍍層厚度測(cè)量、元素分析、鍍液分析。
美國(guó)博曼（Bowman）BA100系列MFF型鍍層測(cè)厚儀系統(tǒng)：
- 配置4個(gè)準(zhǔn)直器的多準(zhǔn)直器系統(tǒng)
- 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ1.5mm
- 可選規(guī)格：①0.05x0.25、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm；②0.05x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm；③0.025x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3m
美國(guó)博曼（Bowman）BA100系列MFF型鍍層測(cè)厚儀工作原理：利用X射線照射產(chǎn)品樣品，樣品的不同元素發(fā)出不同能量大小的二次X射線熒光，儀器分析熒光的波長(zhǎng)和能量大小從而無損計(jì)算出鍍層的厚度。
美國(guó)博曼（Bowman）BA100系列MFF型鍍層測(cè)厚儀特性：
- 測(cè)量元素范圍為Ti22--U92
- 可同時(shí)測(cè)5層鍍層（4層鍍層+1層基材層）
- 成份分析zui多可達(dá)25種元素
- 測(cè)量精度高，測(cè)量結(jié)果精確至μin
- 測(cè)量單位可選擇um、uin、mils、nm
- 配備Si-Pin高分辨半導(dǎo)體固態(tài)探測(cè)器，有效區(qū)分相鄰元素的譜峰，提高穩(wěn)定性和靈敏度
- 開機(jī)預(yù)熱時(shí)間短，15秒左右即可正常進(jìn)行測(cè)量工作
- 儀器與電腦僅需一根USB線連接，有效避免各種干擾，減少出錯(cuò)幾率
- 電腦無需專門的視頻卡，節(jié)省成本
- 儀器前置面板設(shè)置有測(cè)量機(jī)構(gòu)上下移動(dòng)按鈕、測(cè)量的快捷按鈕
- 配備高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍，具有測(cè)量位置預(yù)覽功能
- 基于Net framework框架的Xralizer軟件，均有直觀的圖標(biāo)引導(dǎo)用戶操作的界面
- 具有輔助的紅點(diǎn)鐳射聚焦功能，有效避免人為測(cè)量誤差
- Z軸程控聚焦，可測(cè)外形高度≤132mm的產(chǎn)品
- Xralizer軟件下的強(qiáng)大的報(bào)告編輯軟件，可按客戶需求編輯報(bào)告，
- 產(chǎn)品報(bào)告可以直接打印，也可轉(zhuǎn)換成PDF、RTF、Excel、Text、Image等文件，
- 產(chǎn)品報(bào)告可自動(dòng)顯示每次測(cè)量點(diǎn)的圖片，可顯示：均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、波動(dòng)范圍，CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖等
- 開放型的鍍層應(yīng)用可由客戶依據(jù)引導(dǎo)圖標(biāo)自行建立
美國(guó)博曼（Bowman）BA100系列MFF型鍍層測(cè)厚儀的工作倉(cāng)：
- 開槽式工作臺(tái)
- XY軸手動(dòng)，Z軸程控，程控行程≤132mm
- 工作倉(cāng)內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：310×390×132mm
