MPR200-PAB-ZP15 α β表面污染測量儀
Multi-probe Radiation Survey Meter
MPR200 多探頭輻射測量儀是一款便攜式的放射性探測儀,通過主機和不同探頭的組合,可對各種放射性場合的 α、β輻射進行測量,適用于核電站、其他核設(shè)施、環(huán)境保護、工業(yè)探傷、輻照加工等領(lǐng)域。
主機采用OLED界面顯示,電容式觸摸按鍵,操作方便。(也可選配:外接ZnS閃爍體、塑料閃爍體、雙閃爍體、雙GM管、五GM管、NaI晶體等多種類型、不同面積(尺寸)的探頭)外接探頭內(nèi)置存儲芯片,可保存探頭編號、探頭類型、測量模式、數(shù)據(jù)存儲模式、刻度因子、報警閾值等多種參數(shù)信息,主機自動讀取參數(shù),轉(zhuǎn)換測量界面。
儀器配套有PC管理軟件,可對主機和探頭進行參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)讀取、輸出轉(zhuǎn)存及打印。
儀器配有密封儀器箱,防塵、防水、防震,攜帶方便。
MPR200-PAB-ZP15 表面污染測量儀由MPR200主機+PAB-ZP15 α、β表面污染探頭組成,可對α、β輻射進行測量。
α β表面污染測量儀 表面沾污儀
MPR200主機
功能特點
自動識別各種外接探頭
OLED顯示,無需背光
電容式觸摸按鍵
USB數(shù)據(jù)通訊
PC數(shù)據(jù)管理軟件
可存儲12000條數(shù)據(jù),方便查詢管理
技術(shù)指標
α β表面污染測量儀 表面沾污儀
PAB-ZP15 閃爍α β探頭
|
w 探測器:ZnS(Ag) + 塑料閃爍體
w 測量范圍:0.01 cps ~ 9999 cps
0.001 Bq/cm2 ~ 999.99 kBq/cm2
w 有效面積:15 cm2
w 本底計數(shù):α,≤ 0.01 cps;β,≤ 2 cps
w 探測下限:α,≤0.037 Bq/cm2 (239Pu,10 s,置信度95%,環(huán)境本底0.2 μGy/h)
β,≤0.4 Bq/cm2(90Sr-90Y,10 s,置信度95%,環(huán)境本底0.2 μGy/h)
w 探測效率:α,≥ 30%(239Pu,2π,距探測器5 mm,保護網(wǎng)格遮擋率<30%)
β,≥30%(90Sr-90Y,2π,距探測器10 mm,保護網(wǎng)格遮擋率<30%)
w 尺寸:60 mm × 60 mm × 190 mm(不含手柄)
w 重量:400 g
α β表面污染測量儀 表面沾污儀