總體描述：
   蔡司推出的裂變徑跡顯微分析系統(tǒng)，實現(xiàn)智能自動化操作，對兩個樣本對應區(qū)域進行自動鏡像精準定位、對比統(tǒng)計；能自動完成礦物顆粒分析、徑跡數(shù)目統(tǒng)計、測量徑跡與C軸角度、測量Dpar、Dper值，依據自發(fā)徑跡密度和誘發(fā)徑跡密度計算裂變徑跡表觀年齡。系統(tǒng)還可為客戶提供巖礦分析等其他研究工作。


裂變徑跡顯微分析系統(tǒng)產品特點：
◆優(yōu)化的操作理念
◆擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統(tǒng)
        ◆全自動Z軸自動聚焦模塊
◆保證較大穩(wěn)定性和免振動工作的創(chuàng)新設計
◆統(tǒng)計輻照單礦物的裂變徑跡數(shù)，分析計算礦物表觀年齡，并模擬地質體熱演化歷史


技術參數(shù)
硬件光學系統(tǒng)：ICCS光學系統(tǒng)
1、 專業(yè)分析物鏡：5X、10X、20X、50X、100X 
2、 自動掃描臺：行程130X85mm，步距為 0.1μm，重復精度小于1.0μm
3、 變倍轉換器：1.25X,1.6X
4、 圖像采集：彩色數(shù)碼冷CCD:500萬像素，信實時采集，同步捕捉圖像，傳輸速度快，同時顯示。
5、 分析系統(tǒng)：自動識別待測對象，自動定位及查找功能，自動完成顆粒數(shù)目統(tǒng)計、測量徑跡與C軸角度、能測量Dpar、Dper值等。所有的測試及結果（圖片、表格、報告）均自動保存至數(shù)據庫，可隨時調用并返回當時的測量參數(shù)，保證可追溯測定結果；
用途：
礦物中所含微量鈾的自發(fā)裂變的衰變引起晶格的損傷產生徑跡，測定礦物的鈾含量和自發(fā)裂變徑跡密度、數(shù)量和長度、角度，可以確定礦物的年齡。此法用樣量少，可用樣品種類多，測年范圍可由數(shù)年到幾十億年，特別是在5萬～100MA年期間內，測年效果較其他方法為好，是第四紀地質年代測定的重要方法之一。 


組成：
蔡司全自動科研級顯微鏡
蔡司Axio vision強大分析軟件
  
自動掃描平臺                      Relocation功能
自動物鏡轉換器                    ManualMeasure功能
自動模塊盒                        AutoMeasure功能
自動光強控制管理                
應用：
礦物中所含微量鈾的自發(fā)裂變的衰變引起晶格的損傷產生徑跡，測定礦物的鈾含量和自發(fā)裂變徑跡密度、數(shù)量和長度、角度，可以確定礦物的年齡。此法用樣量少，可用樣品種類多，測年范圍可由數(shù)年到幾十億年，特別是在5萬～100MA年期間內，測年效果較其他方法為好，是第四紀地質年代測定的重要方法之一。
其中，統(tǒng)計受熱中子照射的磷灰石、鋯石等單礦物的裂變徑跡數(shù)，可計算地質體的退火年齡；測量自發(fā)裂變徑跡長度，統(tǒng)計裂變徑跡長度分布，可計算地質體熱演化歷史；并用于觀察透明或不透明礦物、巖石、包裹體的結構等巖相學特征。


原理：
1.理論依據
根據礦物中 U、Th放射性同位素自發(fā)裂變碎片的徑跡而計時的一種方法。徑跡數(shù)目與礦物年齡成正比。礦物中能產生裂變徑跡的重核有 238U、235U和232Th。它們的自發(fā)裂變半衰期分別是 1.01×1016年、3.5×1017年和大于1021年。所以天然樣品中238U的裂徑跡約占99.97%以上，而235U和232Th的裂變徑跡在年齡測定中可忽略不計。 若假定自發(fā)裂變徑跡在礦物中的分布是均勻的，則單位體積內的裂變徑跡數(shù)目(C)與U含量、礦物存在時間及U的自發(fā)裂變常數(shù)成如下關系

式中238U為每立方厘米樣品中238U的原子數(shù),λf為238U的自發(fā)裂變常數(shù)（6.85×10-17/年），λ為U的總衰變常數(shù),t為礦物年齡。 自然狀態(tài)的裂變徑跡非常細小。通過選擇適當?shù)幕瘜W試劑在一定條件下對礦物磨光面進行腐蝕處理(蝕刻)，蝕刻后的徑跡,在顯微鏡下可放大到200～1000倍。若自發(fā)裂變徑跡和誘發(fā)裂變徑跡（即通過熱中子照射產生的徑跡）的蝕刻條件*相同，則裂變徑跡法計算年齡的公式為

式中ρs為在蝕刻表面觀察到的徑跡密度,ρi為蝕刻后看到的誘發(fā)裂變徑跡密度,σ 為235U的熱中子誘發(fā)裂變截面(582×10-24平方厘米),Φ為熱中子劑量，I=238U/235U=137.88。 應用此公式計算年齡時須滿足下列要求：①自發(fā)裂變的半衰期是恒定的；②238U/235U比值是一個常數(shù);③所有的自發(fā)裂變徑跡是238U產生的,而所有的誘發(fā)裂變徑跡都是235U經熱中子照射誘發(fā)產生的;④自發(fā)裂變徑跡和誘發(fā)裂變徑跡的蝕刻條件相同；⑤樣品形成以后保持封閉體系。 裂變徑跡法測定年齡的樣品適應性廣，只要樣品中產生的自發(fā)裂變徑跡密度大于1～10／平方厘米,均可選用。如磷灰石、榍石、鋯石、白云母等。


2.解決方案
（1）ZEISS顯微鏡所配的AxioVision軟件具有強大的圖像拍攝和處理功能，可完成裂變徑跡顯微鏡鏡下圖片拍攝。
（2）AxioVision軟件模塊中的FissionTrack模塊，專為裂變徑跡應用開發(fā)，可滿足裂變徑跡測量的各種需求。該模塊包含三大功能：
1. 針對互為鏡像樣品定位和查找問題，Relocation功能可以實現(xiàn)自動化的樣品鏡像定位。
2. 針對裂變徑跡長度、角度等數(shù)據的測量問題，ManualMeasure功能實現(xiàn)簡單高效的在線測量功能，并自動將測量數(shù)據按照格式，導出為EXCEL表格。
3. 針對裂變徑跡顆粒數(shù)量、面積等數(shù)據的統(tǒng)計問題，AutoMeasure功能實現(xiàn)自動化的統(tǒng)計，包含數(shù)十項可選的顆粒數(shù)據描述。