激光功率測量系統(tǒng)
適合激光光束測量
激光功率測量系統(tǒng)特點:
積分球內部使用Spectraflect®, Infragold® 或 Spectralon® 涂料，可以降低激光方向對測試帶來的影響
堅固的光纖安裝端口
3種積分球尺寸可選：2,4,6英寸可選
3種探測器可選：Silicon (Si), Germanium GE, InGaAs (IN)
可為光纖或者光譜儀預留出安裝端口
校準結果可溯源至NIST
適于測量：
激光
激光二極管
激光二極管組件
發(fā)散的單色光源
藍菲光學（LPMS）系列確保了以精確和可重現的方法測定被校準或發(fā)散的激光或激光二極管。LPMS積分球專門設計用于激光，是測量光輻射束總功率的理想選擇。由于積分球*的幾何結構，激光束功率測量不受激光束偏振及校準的影響。伴隨積分球總處理能力產生的衰減也緩和了探測器的飽和。該系統(tǒng)可與開口一起使用或用一系列的可選的光纖適配器開孔，用于激光二極管組件或開口縮減接頭。
該系統(tǒng)可為300到1800nm波長區(qū)域內的激光提供光功率從15uw到200W的激光功率測量。針對一些特殊的應用，我們亦可通過增加ND濾波片進行衰減。該系統(tǒng)的校準可溯源至國家標準技術研究所（NIST）。
積分球結構*，靈活且準確：內部涂層可選，帶有兩個探測器口，可測波長從250nm~20microns。直徑為2、4、6英寸的積分球的涂層使用了藍菲光學的Spectraflect®或Infragold®，或由我公司的高度漫反射材料Spectralon®制成。這些漫反射內層既經久耐用又能長期保持高穩(wěn)定性，所以確保了精確的光積分。
輻射光束從入射口投射到積分球內，與積分球入口呈45°角處有一個探測器，可以限制探測器視場角，在不影響測試精度的情況下可以收集高度分散的光源。該系統(tǒng)可以測試波長范圍從350~1800nm、功率從0.1 uw到幾百瓦范圍的激光，測試結果可溯源至NIST。
每套系統(tǒng)由激光功率積分球、燈桿和燈桿支架及基礎組件、探測器組件、SC 6000可編程輻射計/光度計及多波段校準系統(tǒng)組成。第二個探測器開口方便用戶靈活地安裝一個額外的探測器組件或光譜儀，以分析較寬靈敏度的激光或分析光譜特性。
訂購信息和規(guī)格
| 型號 | 涂層 | 硅探測器（Si） | 鍺探測器（GE） | 銦鎵砷探測器（IN） |
| LPMS-020-XX*-YY | SF | AS-02489-100 | AS-02489-300 | AS-02489-400 |
| SL | AS-02488-100 | AS-02488-300 | AS-02488-400 | |
| IG | N/A | AS-02490-300 | AS-02490-400 | |
| LPMS-040-XX-YY | SF | AS-02492-100 | AS-02492-300 | AS-02492-400 |
| SL | AS-02491-100 | AS-02491-300 | AS-02491-400 | |
| IG | N/A | AS-02496-300 | AS-02496-400 | |
| LPMS-060-XX-YY | SF | AS-02495-100 | AS-02495-300 | AS-02495-400 |
| SL | AS-02493-100 | AS-02493-300 | AS-02493-400 | |
| IG | N/A | AS-02497-300 | AS-02497-400 |
備注：SF= Spectraflect®, SL= Spectralon®, IG= Infragold®
的系統(tǒng)包括：
2英寸、4英寸或6英寸的激光功率積分球
探測器：Si, Ge或InGaAs
SCC-PM校準器
SC 6000輻射度計/光度計
系統(tǒng)性能和屬性
| 系統(tǒng)規(guī)格 | LPMS-020 | LPMS-040 | LPMS-060 |
| 積分球直徑 | 2 inch (5 cm) | 4 inch (10 cm) | 6 inch (14.4 cm) |
| 入射口開口法蘭直徑 | 0.5 inch (12.7 mm) | 1 inch (2.5 cm) | 1 inch (2.5 cm) |
| 涂層漫反射率 | 98% SF | 98% SF | 98% SF |
| 99% SL | 99% SL | 99% SL | |
| 95% IG | 95% IG | 95% IG |
1# 探測器開口 用于安裝標準直徑為12.7mm光學濾波片
2#探測器開口 選擇性使用，與光纖連接做光譜分析，不用時可以蓋住
激光功率測試系統(tǒng)校準標準
| Si 探測器系統(tǒng) | SCC-PM-SI 350 nm to 1100 nm 每25nm遞增 | LPMS, Silicon |
| Ge 探測器系統(tǒng) | SCC-PM-GE 800 nm to 1800 nm 每25nm遞增 | LPMS, Germanium |
| InGaAs 探測器系統(tǒng) | SCC-PM-IN 900 nm to 1700 nm 每25nm遞增 | LPMS, InGaAs |
探測器規(guī)格
| 探測器 | Silicon 硅 | Germanium 鍺 | InGaAs 銦鎵砷 |
| 有效面積 | 4.5 mm2 | 19.6 mm2 | 7 mm2 |
| 范圍 | 190 - 1100 nm | 800 - 1800 nm | 900 - 1700 nm |
| 峰值響應率: (A/W) | 0.5 a/w @950 nm | 0.9 a/w @1550 nm | 0.9 a/w @1300 nm |
輻射度計/光度計規(guī)格
| 輻射度計/光度計 | SC 6000 |
| 功率 | 110/220 VAC, 50/60 Hz |
| 動態(tài)電流范圍 | 1 pA – 20 mA |
| 通訊接口 | Ethernet |
可選校準
單波長功率校準，SCC-PS：可選單波長校準激光功率計
訂購時可特需的校準波長
可選附件
光纖適配器
探測器
光學濾波片
端蓋
