工作原理：
X射線膜厚儀、鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來，根據(jù)射線強度，來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞，所以也算是無損檢測。
應用領(lǐng)域：
可主用于電鍍及表面處理廠家或是電子電器企業(yè)需要用到電鍍的廠家，如PCB、電子元件、衛(wèi)浴等生產(chǎn)廠家等。
優(yōu)勢：
1.下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
2.無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm。
3.微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
4.高效率的接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。
5.精密微型滑軌：電腦定位操作，快速精準定位樣品。
6.EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
7.膜厚檢測速度：不同鍍種各有區(qū)別，從10S-60S,可以根據(jù)客戶測試需求，自行修改。
規(guī)格：
1.外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm (長x寬x高)
2.樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm (長x寬x高)
3.儀器重量 ：90kg
4.供電電源 ：交流220±5V
5.zui大功率 ：330W
6.環(huán)境溫度：15℃-30℃
7.環(huán)境相對濕度：<70%
