產(chǎn)品概況
本系列冷熱沖擊試驗機主要用於測試材料對*溫或極低溫的抵抗力,這種情況類似於不連續(xù)地處於高溫或低溫中的情形,冷熱沖擊試驗能使各種物品在短的時間內(nèi)完成測試。熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的,采用PID系統(tǒng),各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學變化,PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動控制,將使您操作簡易。
冷熱沖擊試驗箱標準:GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
1、溫度范圍:-40℃~150℃、-60℃~150℃
2、高溫蓄熱箱: 50℃~200℃3、低溫蓄冷箱:-20~10℃、-40~10℃、-60~10℃4、溫度波動度:±1℃ 5、溫度誤差:不大于±2℃6、預冷下限溫度:≤-65℃7、工作室沖擊溫度:-60℃~200℃8、溫度恢復時間:≤5min9、本沖擊試驗箱符合: GJB150.3-86 GJB150.4-86 GJB150.5-86