Cygnus 2 薄膜沉積控制器在 INFICON 薄膜沉積控制器可靠成熟的性能基礎(chǔ)上,增添了更多*的功能,可幫助您實現(xiàn) OLED 過程的大價值。Cygnus 2 使用我們 ModeLock 頻率測量系統(tǒng),提供穩(wěn)定、高分辨率的速率和厚度測量,速率分辨率可達(dá)每 1/10 秒 0.00433 Å/s,是行業(yè)中的。Cygnus 2 具有其他石英晶體控制器*的性能、品質(zhì)和功能,賦予您的過程Cygnus 2 薄膜沉積控制器
- 技術(shù)確保獲得、穩(wěn)定的速率和厚度測量分辨率,即使在速率極低的情況下
- Auto Z 技術(shù)通過自動測定沉積材料的 Z 比值,可提高厚度測量的精度
- 一個 Cygnus 2 即可同時、單獨或以任何組合方式控制多 6 個來源,無需使用兩個或三個控制器
- 彩色 TFT LCD 顯示屏使用戶很容易看到過程的進(jìn)展?fàn)顩r
- 10 Hz 測量
- 100ms 樣本速率下頻率范圍為 +/-0.0035 Hz
- USB 數(shù)據(jù)存儲功能可存儲屏幕截圖、配方存儲和數(shù)據(jù)記錄
- 多個源厚度合計功能
- 測量低密度、低速率材料的平均速率(使用穩(wěn)定源的低速率 OLED 摻雜材料沉積多 30 秒)
- 速率顯示分辨率可達(dá)0.001Å
- 4 米 XIU 選件能夠在大型系統(tǒng)中使用較長的真空傳感器電纜
- 無沉積控制允許持續(xù)控制源,因為基片可以通過沉積室不斷循環(huán)
- 6 個標(biāo)準(zhǔn) DAC 輸出和另外 6 個可選輸出用于來源控制、速率或厚度監(jiān)控
- 可選以太網(wǎng)通信
- 符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn)