簡要描述: |
老化試驗(yàn)房又稱燒機(jī)房是提高電工電子等產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的批量老化試驗(yàn)設(shè)備。星拓專業(yè)定制大型老化房設(shè)備,試驗(yàn)房結(jié)構(gòu)可選隔離式、移動(dòng)式、整體式設(shè)計(jì)方案,內(nèi)箱尺寸可定制。 |
老化試驗(yàn)房主要性能: |
型號(hào):AWG-8 標(biāo)稱內(nèi)容積:8m³ 內(nèi)箱尺寸:W2700xD1700xH1800mm 外箱尺寸:W.3000xD2000xH2000mm 溫度范圍:RT~+85℃ 溫度均勻度:≤±3.0℃ 溫度波動(dòng)度:±1.0℃ 溫度偏差:≤±2.0℃ |
突出特點(diǎn): |
步入式大容積設(shè)計(jì)滿足批量試樣老化試驗(yàn);不銹鋼內(nèi)膽隔離式或整體式機(jī)箱結(jié)構(gòu);集成式控制具有溫度控制精度高和控制范圍寬的特點(diǎn);安全、可靠加熱系統(tǒng)及電控系統(tǒng);內(nèi)箱尺寸可定制
依據(jù)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)老化房可劃分為:隔離式(分體式)老化房、整體式老化房
老化房試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法: 1)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT) 2)GJB 360.8-87 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 高溫壽命試驗(yàn) (MIL-STD-202F) 3)GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn) (MIL-STD-810D) |