日立MAXXI / X-Strata光譜儀
微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。
日立MAXXI / X-Strata光譜儀
微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
日立MAXXI / X-Strata光譜儀技術(shù)參數(shù)
憑借的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是測量薄涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個主濾波器和8個準直器，能夠處理具挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。巨大的開槽室設(shè)計是小、大或長樣本的理想選擇。優(yōu)化的硬件配置可以直接分析化學(xué)鍍鎳應(yīng)用中的%P。
可被配置為三個不同的樣品臺配置，以應(yīng)對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤，可快速被配置，以搭配小或大零件（大6英寸）。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。
應(yīng)用領(lǐng)域
微焦斑 XRF 光譜儀應(yīng)用于 PCB、半導(dǎo)體和電子行業(yè)
PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴控的范圍內(nèi)持續(xù)運營，確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。
