納米顆粒跟蹤分析儀儀器簡介：
Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到。
Zetaview的特點 - 全自動和無源穩(wěn)定性
自動校準程序會持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動設(shè)計提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個子體積并進行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計結(jié)果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。
自動掃描，多可達100個子體積；
自動聚焦；
小巧，便于攜帶；
防震動；
光源從紫外線到紅光；
插入式樣品池；
納米顆粒跟蹤分析儀理論
平移擴散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）
所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態(tài)光散射技術(shù)的低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。
測量范圍
測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計數(shù)
顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑?？蓹z測的小濃度為105粒子/cm3，大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，大體積濃度為1000ppm。
