X射線熒光光譜儀
利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比
X射線熒光光譜儀介紹
EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對(duì)復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。
X射線熒光光譜儀性能特點(diǎn)
專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量zui薄至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
