【儀器簡介】

 X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。 

【儀器名稱】掃描型X射線熒光光譜儀（XRF）

【型號】日本電子JSX-3400R

【生產(chǎn)廠家】日本電子株式會社

【主要特點】液氮制冷型探頭、世界探頭等分辨率、同等時間內檢出限度、測試時間短、各類優(yōu)異軟件、能量過濾裝置等。該產(chǎn)品世界各地，在同類型產(chǎn)品中性能，其穩(wěn)定優(yōu)異性能深受廣大用戶的好評與青睞。 

【主要應用領域】電子行業(yè)、機械制造、醫(yī)療衛(wèi)生、生態(tài)研究、 冶金有色、食品工業(yè)和商業(yè)、珠寶首飾、地質勘探、煤炭、造紙、建材行業(yè)、考古、商檢、電鍍行業(yè)、鋼鐵行業(yè)、石化、稀土、石英砂、金鋼砂、陶瓷等許多領域得到了越來越廣泛的應用。 

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