金屬硬度檢測 Equotip 550 Leeb
產(chǎn)品規(guī)格
下載
性能與優(yōu)點
Equotip 550 是便攜式硬度檢測功能齊全的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動態(tài)（回彈）法，適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場檢測。
結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。 這將能夠在現(xiàn)場自動將 Leeb 關聯(lián)至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。
新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設計的界面，提高了檢測效率和改善用戶體驗。 改進的軟件可提供互動向?qū)А⒆詣域炞C進程、個性化選項和自定義報告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。
迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為廣泛認可的測量技術和行業(yè)標準。 Equotip 裝置*眾多行業(yè)對無損硬度檢測的要求。
特色/應用/標準化/技術數(shù)據(jù)
Equotip Leeb
- 根據(jù)需要自動轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
- 自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準確度為 0.5%）
- 測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測要求。
- 每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和精確的硬度測試塊，，用于定期驗證。
Equotip 550 Touchscreen Unit
- 模塊化概念： 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應用
- 組合法： 在現(xiàn)場自動將 Leeb 關聯(lián)至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值
- 引導向?qū)В?預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精確度
- 自動驗證： 根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證
- 互動指南： 通過屏幕通知為您的應用獲取相關的設置
- 轉(zhuǎn)換曲線： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗證轉(zhuǎn)換曲線
- 自定義報告： 模塊化報告處理器允許自定義測量報告
- 自動選項： 將 NDT 自動操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動檢測環(huán)境
- 外殼經(jīng)過特殊設計，可用于嚴苛的現(xiàn)場環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋
- 高分辨率彩色顯示屏
- 電池使用時長 > 8h
- 8 GB 閃存
- 雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網(wǎng)
- 通過直接兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品，實現(xiàn)未來保障投資
- 里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測
- 合適用于材料挑選、驗收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測
- 合適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場檢測
- 方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地
Proceq 提供一些附件，例如一個測量夾或幾個支撐腳，適合在各種測試件結(jié)構(gòu)上進行手動硬度測量
標準
- ASTM A956 / E140 / A370
- ISO EN 16859（即將發(fā)布）
- DIN 50156
- GB/T 17394
- JB/T 9378
準則
- ASME CRTD-91
- DGZfP Guideline MC 1
- VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
- Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
儀器
- 顯示屏 7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素
- 內(nèi)存 內(nèi)置 8 GB 閃存（可存儲多達 1000000 個測量值）
- 區(qū)域設置 公制和英制單位，支持多種語言和時區(qū)
- 電池 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
- 電池使用時長 > 8h（標準操作模式下）
- 電源輸入 12 V +/-25 % / 1.5 A
- 重量（顯示裝置） 大約 1525 g（含電池）
- 尺寸 250 x 162 x 62 mm
- 濕度 < 95?%RH，非冷凝
- 操作溫度 0°C 至 30°C（32 至 86°F） （正在充電且儀器正在運行）
0°C 至 40°C（32 至 104°F） （正在充電且儀器關閉）
-10°C 至 50°C（14 至 122°F） （未充電）
- 環(huán)境 適合室內(nèi)與室外使用
- IP 等級 IP 54
- 污染等級 2
- 安裝類別 2
Equotip Leeb 沖擊裝置
- 測量范圍 1-999 HL
- 測量精度 ± 4 HL（800 HL 時為 0.5 %）
- 分辨率 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)
- 沖擊方向 自動補償（DL 探頭除外）
- 沖擊能量
- D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm
- DL 探頭為 11.1 Nmm
- C 探頭為 3.0 Nmm
- G 探頭為 90.0 Nmm
沖擊體質(zhì)量
- D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司）
- DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司）
- C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司）
- G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司）
球壓頭
- C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
- DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸）
- G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸）
- S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
- E 探頭為多晶金剛石，直徑3.0 毫米（0.12 英寸）
操作溫度 –10?C 至 50?C（14 至 122°F）
