EA6000VX X射線熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.快速掃描
憑借zui大150萬CPS的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器完成高靈敏度的測(cè)量，以及借助zui大250 mm×200 mm范圍掃描的快速電動(dòng)樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速掃描測(cè)量。對(duì)于范圍為100 mm×100 mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測(cè)出端子部分的鉛并確定其位置。
2. 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量
zui多可500個(gè)測(cè)量位置進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。由于采用自動(dòng)測(cè)量方式，因此在測(cè)量大量樣品是，也可發(fā)揮高效率。
3. 高精密重合
通過ecentric Lens 系統(tǒng)和高速?高精度XY平臺(tái)，將元素掃描像和光學(xué)成像進(jìn)行重合對(duì)微小部品的中心部分的目標(biāo)元素也能進(jìn)行簡(jiǎn)單觀察。zui大250 mm×200 mm上方觀察，并且能夠?qū)崿F(xiàn)廣域位置zui小誤差為100 µm以內(nèi)的精確定位。
4. 微小部位測(cè)量
在FT系列中被*的測(cè)量鍍膜膜厚儀器就是由EA6000VX。不用說極薄的鍍金等膜厚測(cè)量，即便是在進(jìn)行鍍膜鐘所含的Pb等有害物質(zhì)分析的膜壓測(cè)量的同時(shí)也可進(jìn)行膜厚測(cè)量。比如也可進(jìn)行無鉛焊錫鍍層及引線框架上Sn鍍層，無電解Ni鍍膜中所含的有害物質(zhì)的濃度測(cè)量。
5. 環(huán)境中限制物的測(cè)量
RoHS等限制物的高靈敏度測(cè)量，短時(shí)間內(nèi)測(cè)出樹脂、金屬等中含有的微量環(huán)境限制物。對(duì)復(fù)合樣品也可專注到特定部位進(jìn)行測(cè)量。
6. 輕元素測(cè)量
通過安裝充氦選購項(xiàng)，可以分析鈉開始的輕元素。測(cè)量中能夠獨(dú)立運(yùn)轉(zhuǎn)的氦氣系統(tǒng)。將使用成本zui大化降低。
7. 透視掃描機(jī)能
筆記本、手機(jī)等不能透過外包裝看到內(nèi)部構(gòu)造的產(chǎn)品，無需拆解就可得到不僅僅是基板上的Pb，甚至其他各種元素的掃描圖。通過比較X射線照射后得到的元素掃描圖像，可以了解關(guān)于產(chǎn)品內(nèi)部部件構(gòu)造的各種情報(bào)。
8. 異物檢測(cè)EA6000VX
EA6000VX通過快速掃描功能可以在幾分中內(nèi)檢測(cè)出寬廣范圍（zui大250 mm×200 mm）內(nèi)含有的幾十 µm的微小金屬異物，并查明其具體位置。也可檢測(cè)出樹脂等有機(jī)物內(nèi)部還有的微小、微量金屬異物。
9. 安全、安心的操作性
自動(dòng)接近、防止沖撞功能 操作臺(tái)上樣品一旦設(shè)定好啟動(dòng)后，自動(dòng)測(cè)量出樣品的zui大高度，移動(dòng)到的測(cè)量高度。即便是復(fù)雜形狀的樣品，操作員也可輕松測(cè)量。另外，即便通過操作指南調(diào)整了測(cè)量高度，由于安裝了防止沖撞傳感器，因此不會(huì)使樣品受到損傷。
EA6000VX X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量元素 | 原子序號(hào)Na(11)～U(92) |
樣品形狀 | 液體、粉體、固體 |
X射線源 | 小型空冷室X射線管（Rh或W靶） |
X射線照射方向 | 上方垂直照射型 |
檢測(cè)器 | Vortex（SSD檢測(cè)器） *（無需液氮） |
分析區(qū)域 | 0.2, 0.5, 1.2, 3.0 mm□（自動(dòng)切換） |
樣品觀察 | 高分辨率CCD攝像頭2系統(tǒng) |
濾波器 | 6種模式電動(dòng)切換 |
zui大樣品尺寸 | 250（W）×200（D）×150（H） mm |
儀器尺寸 | 750（W）×740（D）×783（H） mm *電器箱另置 |
重量 | 160kg |
電源/額定功率 | AC100～240 V(50/60Hz)/400 VA |
自動(dòng)進(jìn)樣器 | 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量功能 |
EA6000VX X射線熒光光譜儀
