制冷型光纖光譜儀
SEK是一款科研級適用于極弱光檢測的微型光譜儀，采用濱松面陣背照式探測器FFT-CCD，*的光學平臺及光學組件設計，具有更低的雜散光和更高的靈敏度。
制冷型光纖光譜儀是一款科研級適用于極弱光檢測的微型光譜儀，采用濱松面陣背照式探測器FFT-CCD，*的光學平臺及光學組件設計，具有更低的雜散光和更高的靈敏度。
SEK采用片上熱電制冷技術，可將探測器的溫度降到低于環(huán)境溫度40℃以下，能夠有效地降低系統(tǒng)的熱電噪聲，*的提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性，對于熒光、拉曼等弱光檢測更具優(yōu)勢。
產品參數制冷型光纖光譜儀
- 探測器
參數 | 指標 |
探測器名稱 | Hamamatsu S7031 |
探測器類型 | 面陣背照式FFT-CCD |
像素 | 1044 x 64 total pixels |
量子化效率 | 250nm處85%，峰值95% |
探測器面積 | 縱 / 橫: 24.576 mm / 1.392 mm |
暗電流噪音 | 10 e-/pixel/sec @ 0 ºC |
制冷 | 內一級熱電制冷 |
- 光譜特性
參數 | 指標 |
波長范圍 | 視光柵而定，可從190~1100 nm |
光學分辨率 | 0.17~7.67 nm |
信噪比 | 1000:1 |
A/D位數 | 16 bits |
暗噪聲 | 6 RMS Counts @10 ms |
動態(tài)范圍 | 12000:1 |
積分時間 | 8 ms~15 min |
雜散光 | ＜0.08% @ 602 nm，0.4%@435 nm |
矯正線性度 | > 99% |
產品性能
Ø 可長時間曝光，提高光譜儀對極弱光的響應能力
Ø 采用熱電內制冷技術，有效地降低了光譜儀的暗噪音
Ø *的光路平臺設計，使得靈敏度和分辨率顯著提高
Ø 寬譜段效率均衡，寬范圍可達190~1100 nm
型號說明
型號 | 說明 |
SEK | 制冷型微型光纖光譜儀（350~1100 nm） |
SEK-EX | 制冷型微型光纖光譜儀（全波段） |
SEK | 定制不同波段的微型光譜儀 |
