N7788B 光元器件分析儀曾院平-
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深圳佳捷倫電子儀器有限公司
聯(lián)系:曾院平/歐陽(yáng)
地址:深圳市龍崗區(qū)平湖街道平新北路163號(hào)廣弘星座B棟12樓
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主要特性與技術(shù)指標(biāo)
主要優(yōu)勢(shì)
通過單次掃描實(shí)現(xiàn)精度: 無需通過多次掃描計(jì)算平均值
高測(cè)量速度
10 秒之內(nèi)即可完成 C/L 頻帶中的完整測(cè)量(無需等待多個(gè)平均值)
穩(wěn)定性不受光纖移動(dòng)/振動(dòng)和漂移的影響
描述
是德制定了使用 N7788B 元器件分析儀進(jìn)行元器件測(cè)量的限制, 其專有技術(shù)可與的瓊斯矩陣本征法(JME)相媲美,瓊斯矩陣本征法是測(cè)量光器件的偏振模色散(PMD)或差分群時(shí)延(DGD)的標(biāo)準(zhǔn)方法。
是德新的單次掃描技術(shù)具有一系列優(yōu)點(diǎn),可用于測(cè)試全套參數(shù):
DGD/ PMD
PDL
功率/損耗
TE/TM 損耗
二階 PMD
主偏振態(tài)(PSP)
瓊斯和米勒矩陣
用于生產(chǎn)車間的設(shè)計(jì)
備注:
我們的優(yōu)勢(shì):
品種齊全,貨源充足,存庫(kù)雄厚,服務(wù)快捷,維修能力強(qiáng)。
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我公司對(duì)銷售的儀器儀表均負(fù)責(zé)保修一年.