ATX220涂層測(cè)厚儀概述
ATX220涂層測(cè)厚儀是一款便攜式涂鍍層測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密的進(jìn)行涂鍍層厚度的測(cè)量。即可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過更換不同的側(cè)頭，還可以滿足多種測(cè)量的需要。ATX220涂層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)*的儀器。
ATX220涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 渦流方法
- JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀
- JJG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》
- JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》
ATX220涂層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)
- 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法：既然無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）又可測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
- 可使用7種測(cè)頭（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）
- 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
- 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（A-B）
- 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
- 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
- 具有存貯功能：可存貯600個(gè)測(cè)量值
- 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
- 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警
- 具有電源欠壓指示功能
- 操作過程有蜂鳴聲提示
- 具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示
- 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式
- 采用塑料外殼，輕便、耐用
ATX220涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
- 測(cè)頭類型：可選，見涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)表
- 測(cè)量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：分體
- 示值誤差：F | N
1. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[2%H+1]
2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]
3. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[2%H+1.5]
4. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測(cè)量條件：F | N
1. 小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9
2. 基體小面積的直徑(mm)：ф7
3. 小臨界厚度(mm)：0.5
4. 小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
5. 基體小面積的直徑(mm)：ф5
6. 小臨界厚度(mm)：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統(tǒng)計(jì)功能：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
- 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
- 上下限設(shè)置：有
- 存儲(chǔ)能力：500個(gè)測(cè)量值
- 關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)和自動(dòng)
- 電源：兩節(jié)1.5v電池
- 外形尺寸：50×120×25mm
- 重量：400g
ATX220涂層測(cè)厚儀基本配置
- ATX220涂層測(cè)厚儀主機(jī)
- F測(cè)頭或N測(cè)頭
- 標(biāo)準(zhǔn)片一套
- 鐵基體或鋁基體
- 電池
- 使用說明書
