徠卡Leica DM6 M LIBS微觀分析金相顯微鏡
將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比， 測定微觀結(jié)構(gòu)成分 的時間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。
徠卡Leica DM6 M LIBS微觀分析金相顯微鏡
將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比， 測定微觀結(jié)構(gòu)成分 的時間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。
用于目視和化學(xué)分析的二合一系統(tǒng)
1 秒即可獲得化學(xué)元素圖譜
無需樣品制備
完成！
只需一次單擊，即可準(zhǔn)確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質(zhì)，從而快速簡單的識別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識。
實(shí)現(xiàn)快速精確材料分析的二合一系統(tǒng)
徠卡Leica DM6 M LIBS微觀分析金相顯微鏡 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分。
識別感興趣的微觀結(jié)構(gòu)成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。
優(yōu)勢概覽
與典型的電鏡方法*相比，節(jié)省 90% 的時間，而且以可靠的目視和化學(xué)檢驗(yàn)材料信息為基礎(chǔ)，快速做出自信的決策。
無需 SEM 樣品制備
為什么使用 徠卡Leica DM6 M LIBS微觀分析顯微鏡 能節(jié)省 90% 的時間？因?yàn)檫@種解決方案：
無需樣品制備和轉(zhuǎn)移；
無需系統(tǒng)調(diào)節(jié)；且
無需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。
減少工作流程
將工作流程精簡至只有一個步驟，以結(jié)果為重點(diǎn)。
組件清潔度分析
DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結(jié)合，讓您僅使用一臺儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進(jìn)行目視和化學(xué)檢驗(yàn)。
這樣可以更輕松地找到污染源。
做出自信的決策
通過快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)，您將得到在分析過程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢。
微觀結(jié)構(gòu)成分的評估
DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結(jié)構(gòu)和元素/化學(xué)分析，例如礦石、合金、陶瓷等。
無需進(jìn)行樣品制備，也無需在 2 個或更多設(shè)備之間進(jìn)行轉(zhuǎn)移。整個分析工作流程全部在一臺儀器上完成。
大程度減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析，從而節(jié)省時間和資金。
材料的深度剖面圖和層次分析
LIBS 的消融原理可被運(yùn)用于材料的微型打孔。
微型打孔可應(yīng)用于諸如：
深度剖面
層次分析
表面清潔。
在測定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時，深度剖面非常有用。
層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。
利用表面清潔可以去除氧化物和污染。
LIBS：您的化學(xué)分析研究利器
DM6 M LIBS 解決方案運(yùn)用激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) 使定性化學(xué)分析成為可能。
單擊即可觸發(fā)分析，激光將穿透樣品上的瞄準(zhǔn)點(diǎn)。一個等離子體將會產(chǎn)生，然后分解。產(chǎn)生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。
軟件將圖譜與已知的元素和化合物數(shù)據(jù)集進(jìn)行對比，從而確定微觀結(jié)構(gòu)的成分。數(shù)據(jù)集可以隨著用戶獲得的具體材料結(jié)果得到擴(kuò)充。
抓住時機(jī)，為時未晚！
- 使用 LIBS 升級為二合一解決方案
您是否已經(jīng)擁有一款我們的 DM6000 M 或 DM6 M 復(fù)式顯微鏡？
如果您已經(jīng)擁有，則可以充分利用這種選擇，使用 LIBS 系統(tǒng)進(jìn)行改裝，以優(yōu)惠的價格得到二合一解決方案。
