商洛線性三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途
適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
技術(shù)參數(shù)
內(nèi)部尺寸：40×50×40  WxHxD（cm）
外部尺寸： 148X190X155 WxHxD（cm)
執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn);GJB360.7溫度沖擊試驗(yàn);GB/2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)溫度范圍（150℃~A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃）
高溫區(qū) ：+60℃~+150℃；
低溫區(qū)：-10℃~-65℃；
升溫時間（蓄熱區(qū)）RT~200℃約需35min
降溫時間（蓄冷區(qū)）RT~-70℃約需85min
溫度回復(fù)時間／轉(zhuǎn)換時間≤5min內(nèi)／ ≤10sec內(nèi)
溫度控制精度／分布精度±0.5℃／ ±2.0℃
商洛線性三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
全部功能采用計(jì)算機(jī)控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時間的參數(shù)，使制冷、加熱、提藍(lán)傳送切換，按設(shè)定值自動進(jìn)行。
冷箱、熱箱獨(dú)立控制，箱門互相獨(dú)立，擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍（一箱三用）。
產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。
試驗(yàn)箱門與循環(huán)風(fēng)機(jī)，提藍(lán)傳動等互鎖，保護(hù)操作者的安全，一旦打開箱門，循環(huán)風(fēng)機(jī)和提藍(lán)傳動的電源會被自動切斷。
控制系統(tǒng):
低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時間小于等于15秒。
溫度恢復(fù)時間小于等于5分鐘。

*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到*??；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用品牌產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)