集成觸控面板INVENIO R傅立葉變換紅外光譜儀
您可以選擇集成觸控面板，輕松完成研發(fā)級(jí)工作。該觸控面板不僅可左右移動(dòng)，而且還能沿兩個(gè)軸傾斜。觸控面板PC 中安裝了的 OPUS-TOUCH R&D 軟件，有助于簡化工作流程和實(shí)現(xiàn)直觀操作。在研究應(yīng)用工作中，還可連接臺(tái)式電腦。

MultiTect™ 檢測器技術(shù)INVENIO R傅立葉變換紅外光譜儀
讓人難以置信但千真萬確的事實(shí)是，布魯克創(chuàng)新型的 MultiTect™ 檢測器技術(shù)可同時(shí)自動(dòng)控制多達(dá) 5個(gè)室溫檢測器。MultiTect™ 檢測器單元可配置諸如DTGS、InGaAs、硅二極管或 GaP 等各種室溫傅立葉變換紅外（FTIR）檢測器，從而覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見光的整個(gè)光譜區(qū)間。信號(hào)將由一個(gè) 24 位動(dòng)態(tài)區(qū)間的雙通道 ADC 直接進(jìn)行數(shù)字化。額外的 DigiTect™ 檢測器插槽，可用于安裝 MCT 或其它特殊檢測器。

Transit™ 測量通道
INVENIO® 可選擇性地配置一個(gè)額外的透射通道，這樣就無需移除主樣品室中的大型附件裝置，從而讓您能夠快速、方便地進(jìn)行中紅外光譜的測量。Transit™ 通道中包含一個(gè)的中紅外DTGS檢測器，可以安裝用于壓片樣品的支架、用于薄膜樣品的磁性樣品架、用于各類扁平狀樣品的夾具，以及大多數(shù)液體池附件。結(jié)合 MultiTect™ 與DigiTect™ 技術(shù)，INVENIO® 可配置多達(dá)7個(gè)內(nèi)部檢測器，并可通過軟件來自動(dòng)選擇這些檢測器。

光譜區(qū)間擴(kuò)展
INVENIO® R可選擇性地配備光源、任意數(shù)量的分束器和檢測器，已覆蓋15 cm 至 28,000 cm，也就是從超遠(yuǎn)紅外至中、近紅外，再至可見光和紫外光的整個(gè)光譜區(qū)間。得益于準(zhǔn)直的 RockSolid 干涉儀，布魯克*的 MultiTect 檢測器技術(shù)，多個(gè)內(nèi)部與外部光源位置和于多個(gè)光譜區(qū)間的光學(xué)元件，譜區(qū)擴(kuò)展變成了一項(xiàng)十分簡單的任務(wù)。

*的布魯克FM技術(shù)
布魯克的FM遠(yuǎn)中紅外技術(shù)由其*的超寬區(qū)間分束器和寬區(qū)間DTGS檢測器組成。通過一次性測量，無需更換任何光學(xué)元件，即可生成完整的遠(yuǎn)紅外與中紅外光譜。結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部紅外光源與FM元件，足以覆蓋從6000 cm-1 to 80 cm-1的寬區(qū)間。

新一代智能型研究級(jí)光譜儀
INVENIO® R 的創(chuàng)新型儀器設(shè)計(jì)體現(xiàn)在多個(gè)方面，例如，樣品室中用于方便更換附件的增強(qiáng)型 QuickLock 功能、用于自動(dòng)識(shí)別的電子編碼窗片和樣品支架、用于驗(yàn)證與定制濾光器的8檔濾光器輪，以及用于高靈敏度檢測器或用于衰減外部光源或激光的內(nèi)部 5 級(jí)自動(dòng)衰減器輪。新一代電子單元內(nèi)置 CPU，非常強(qiáng)大，并為日后各種升級(jí)與功能擴(kuò)展做了鋪墊。此外，INVENIO® 的光學(xué)元件可隨時(shí)進(jìn)行多個(gè)光譜范圍的升級(jí)，這樣，您只需購買相應(yīng)光學(xué)元件（光源、分束器和檢測器）即可完成光譜范圍的擴(kuò)展。