KAMAKIRI-WM應力測試儀
其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結(jié)合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領域。
KAMAKIRI-WM應力測試儀 Photron集團公司是日本大型相機，視頻，軟件控制供應商，其旗下的高速/超高速攝像機業(yè)務應用非常廣泛，歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結(jié)合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領域。
KAMAKIRI-WM應力測試儀
主要特點：
- 適用于薄膜等生產(chǎn)線上，實現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量。
- LIVE實時輸出雙折射的信息。
- OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異常點發(fā)出警報。
- 操作簡單，可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。
- 實時記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù)，以進行進一步詳細分析。
- 可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。
應用領域：
- 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
- 保護薄膜（PET/PEN/PS/PI）
- 樹脂成型
- 玻璃
技術參數(shù)：
項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm/0-260nm(選配) |
4 | 主軸方位范圍 | 0-180° |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 測量寬度尺寸 | 350mm |
7 | 寬度方向測量點 | 2560 |
