1756-IF16 AB模塊CPU處理器
1756-IF16 AB模塊CPU處理器
時間繼電器在控制電路中用于時間的控制。其種類很多,按其動作原理可分為電磁式、空氣阻尼式、電動式和電子式等,按延時方式可分為通電延時型和斷電延時型。空氣阻尼式時間繼電器是利用空氣阻尼原理獲得延時的,它由電磁機構(gòu)、延時機構(gòu)和觸頭系統(tǒng)3部分組成。電磁機構(gòu)為直動式雙E型鐵心,觸頭系統(tǒng)借用I-X5型微動開關(guān),延時機構(gòu)采用氣囊式阻尼器。 [8]
可靠性編輯
1、環(huán)境對繼電器可靠性的影響:繼電器工作在GB和SF下的平均故障間隔時間zui高,達到820000h,而在NU環(huán)境下,僅60000h。 [9]
2、質(zhì)量等級對繼電器可靠性的影響:當選用A1質(zhì)量等級的繼電器時,平均故障間隔時間可達3660000h,而選用C等級的繼電器平均故障間隔時間為110000,其間相差33倍,可見繼電器的質(zhì)量等級對其可靠性能的影響非常大。 [9]
3、觸點形式對繼電器可靠性的影響:繼電器的觸點形式也會對其可靠性產(chǎn)生影響,單擲型繼電器的可靠性都高于相同刀數(shù)的雙擲型繼電器,同時隨刀數(shù)的增加可靠性逐漸降低,單刀單擲繼電器的平均故障間隔時間是四刀雙擲繼電器的5.5倍。 [9]
4、結(jié)構(gòu)類型對繼電器可靠性的影響:繼電器結(jié)構(gòu)類型共有24種,不同類型均對其可靠性產(chǎn)生影響。 [9]
5、溫度對繼電器可靠性的影響:繼電器工作溫度范圍在-25~70℃之間。隨著溫度的升高,繼電器的平均故障間隔時間逐漸下降。 [9]
6、動作速率對繼電器可靠性的影響:隨著繼電器動作速率的提高,平均故障間隔時間基本呈指數(shù)型下降趨勢。因此,若設計的電路要求繼電器的動作速率非常高,那么在電路維修時就需要仔細檢測繼電器以便及時對它更換。 [9]
7、電流比對繼電器可靠性的影響:所謂電流比是繼電器的工作負載電流與額定負載電流之比。電流比對繼電器的可靠性影響很大,尤其當電流比大于0.1時,平均故障間隔時間迅速下降,而電流比小于0.1時,平均故障間隔時間基本不變,因此在電路設計時應選用額定電流較大的負載以降低電流比,這樣可保證繼電器乃至整個電路不因工作電流的波動而使可靠性降低。 [9]
新型繼電器編輯
新型繼電器是指為了適應新提出的特殊要求,滿足特殊環(huán)境條件下的使用而研制生產(chǎn)出的電磁式繼電器,其主要特點是體積小、質(zhì)量輕、耐振動、抗沖擊、負載范圍從低電平負載到5A、28 V額定負載,產(chǎn)品有可靠性指標(失效率等級)要求,產(chǎn)品采用電阻熔焊或激光熔焊密封的氣密式密封結(jié)構(gòu),主要應用于電子控制設備中的信號傳遞和弱電功率切換。 [10]
新型電磁式繼電器包括:非磁保持繼電器和磁保持繼電器。非磁保持繼電器是一種單穩(wěn)態(tài)繼電器,繼電器線圈在規(guī)定的電壓激勵量作用下,其觸點輸出狀態(tài)改變,但在線圈激勵撤銷后,觸點輸出狀態(tài)復原到初始狀態(tài)。磁保持繼電器是一種雙穩(wěn)態(tài)繼電器,分單線圈結(jié)構(gòu)和雙線圈結(jié)構(gòu),線圈激勵為電脈沖方式。對單線圈結(jié)構(gòu)繼電器,當線圈在規(guī)定的電壓激勵量作用下其觸點輸出狀態(tài)改變,線圈激勵撤銷后,觸點能保持已有狀態(tài),要改變觸點輸出狀態(tài),需對線圈加一規(guī)定的反向電壓激勵量。對雙線圈結(jié)構(gòu)繼電器,當線圈在規(guī)定的電壓激勵量作用下其觸點輸出狀態(tài)改變,線圈激勵撤銷后,觸點能保持已有狀態(tài),要改變觸點輸出狀態(tài),需對第二線圈加規(guī)定的電壓激勵量。 [10]
由于新型繼電器具有的特殊性能,它的檢測方法和檢測要求也不同于常規(guī)繼電器的檢測。主要檢測的內(nèi)容有電氣參數(shù)檢測、電氣性能指標檢測、機械性能指標檢測和物理性能指標檢測等。
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