半導體特性測試儀
ST-DC2000_X 系列
可以測試 19大類27分類 的大中小功率的半導體分立器件及模塊的靜態(tài)直流參數(shù)，（測試范圍包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化鎵）材料的IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件）高壓源2000V ，大電流源 50~1250A，分辨率可高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能，029-87309001/垂詢Tel:173 -4295 -2894
產品介紹
ST-DC2000_X 系列·半導體特性測試儀 是我公司研發(fā)生產的一款經典產品，擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過功能按鍵，系統(tǒng)可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
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曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數(shù)據(jù)點。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或對數(shù)，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數(shù)據(jù)點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外， 針對多條曲線，設備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運行并將所獲數(shù)據(jù)自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快，更簡潔的創(chuàng)*線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。
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支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數(shù)據(jù)集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運行速度快，可進行數(shù)據(jù)記錄，提供更高級的數(shù)據(jù)工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優(yōu)點。
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提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。
產品應用
應用領域
院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業(yè)鏈 ……
主要用途
測試分析（功率器件研發(fā)設計階段的初始測試）
失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案 ）
選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對）
來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現(xiàn)規(guī)?；?、自動化測試）
技術規(guī)格
高壓源
范圍：±2.500mV~1000V（選配2000V）
分辨率：1mV
精度：1%+10mV
大電流源
范圍：標配±1nA~50A（選配100A / 250A / 500A 750A / 1000A / 1250A）
分辨率：1nA /10pA（10pA加微電流選件）
精度：1%+10nA+20pA/V
控制極電壓
范圍：±2.500mV~20V（選配80V）
分辨率：1mV
精度：1%+5mV
控制極電流
范圍：±1nA~10A（選配40A）
分辨率：10nA
精度：10nA+20pA/V
測試效率：0.5mS/1個參數(shù)
產品特點
測試范圍廣（通測19大類，27分類半導體器件，覆蓋市面上常見的所有分立器件）
升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍
采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規(guī)定的300us
被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止測試, 保證被測器件不受損壞
真正的動態(tài)跨導測試。（主流的直流方法測動態(tài)跨導 ，其結果與器件實際值偏差很大）
系統(tǒng)故障在線判斷修復能力，便于應急處理排障
二極管極性自動判別功能，無需人工操作
IV 曲線追蹤掃描及顯示 / 局部放大
程序保護大電流/電壓,以防損壞
具有品種繁多的IV曲線
可編程的數(shù)據(jù)點對應
增加線性或對數(shù)
可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱
保存和重新導入入口程序
保存和導入之前捕獲圖象
曲線圖以及測試數(shù)據(jù)自動保存為EXCEL和TXT文本格式；
支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A
測試種類及參數(shù)
IGBT
ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS
MOSFET / MOS場效應管
IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS
J-FET / J型場效應管
IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF
晶體管（NPN/PNP）
ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF
DIODE / 二極管
IR；BVR ；VF
ZENER / 穩(wěn)壓、齊納二極管
IR；BVZ；VF；ZZ
DIAC / 雙向觸發(fā)二極管
VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,
OPTO-COUPLER / 光電耦合
ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)
RELAY / 繼電器
RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME
TRIAC / 雙向可控硅
VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-
SCR / 可控硅
IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH
STS / 硅觸發(fā)可控硅
IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-
DARLINTON / 達林頓陣列
ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON
REGULATOR / 三端穩(wěn)壓器
Vout；Iin；
OPTO-SWITCH / 光電開關
ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF
OPTO-LOGIC / 光電邏輯
IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF
MOV / 金屬氧化物壓變電阻
ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；
SSOVP / 固態(tài)過壓保護器
ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ-
VARISTOR / 壓變電阻
ID+； ID-；VC+ ；VC-
公司介紹
西安天光測控技術有限公司029-87309001 是一家專業(yè)從事半導體功率器件測試設備 研發(fā)、生產、銷售的*。產品有半導體分立器件測試篩選系統(tǒng)。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數(shù)及可靠性和老化測試。靜態(tài)單脈沖（包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)）動態(tài)雙脈沖（包括 Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環(huán)境老化測試（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）熱特性測試（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各類全系列測試設備。廣泛應用于半導體器件上游產業(yè)（設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板）和下游產業(yè)（院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業(yè)鏈）。
公司團隊匯集了來自國內院校及電力電子行業(yè)的專家教授。擁有眾多*的革命性創(chuàng)新技術。產品成熟可靠，久經市場考驗，在替代進口產品方面有著突出的優(yōu)勢。公司從產品到服務，從技術咨詢到現(xiàn)場支持，可覆蓋功率器件的初始研發(fā)到規(guī)?；a的整個領域。
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