用于高級材料研究的顯微鏡系統(tǒng)Axio Imager 2 MAT 研究級材料顯微鏡
將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準(zhǔn)且可重復(fù)的結(jié)果。
Axio Imager 2 擁有出色的光學(xué)鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預(yù)設(shè)條件和可重復(fù)的結(jié)果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。
從四種不同的主機(jī)架中選擇您需要的系統(tǒng),并借助專業(yè)解決方案擴(kuò)展應(yīng)用:Particle Analyzer、關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)或 LSM 700。Axio Imager 2 MAT 研究級材料顯微鏡
● 具有超高對比度和分辨率的出色光學(xué)系統(tǒng);
● 模塊化主機(jī)設(shè)計,利用一系列電動和編碼組件增強(qiáng)靈活度;
● 穩(wěn)定的主機(jī)和無振動的工作環(huán)境能夠確保觀測結(jié)果的可重復(fù)性;
● 使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進(jìn)行升級;
● 在關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2;
● 在質(zhì)量檢驗和流程控制中,自動化功能可確保重復(fù)檢測結(jié)果的精準(zhǔn)。
觀察方式選擇
研究和檢測不同材料。分析金屬結(jié)構(gòu)、復(fù)合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。
多種觀察方式可供選擇,以獲得更多豐富的信息。使用反射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、圓微分干涉(C-DIC)、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、偏光或圓偏光下檢測樣品。
- 觀察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設(shè)置可復(fù)制。