產(chǎn)品名稱: 高低溫交變(濕熱)試驗箱
產(chǎn)品型號:GDWJS
產(chǎn)品特點:
該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、溫濕度及其循環(huán)變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用
使用范圍: 高低溫交變濕熱試驗箱
適用行業(yè):電子組件,如:電容、電感、電阻、二極管、三極管等;電器,如:機、機、汽車配件電器產(chǎn)品;塑料,如:塑料外殼,塑料產(chǎn)品等,特別適用于光纖、LCD、晶體、光伏組件、電池、計算機、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
執(zhí)行標準:高低溫交變濕熱試驗箱
GB 10589-2008 《低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》
GB2423.3-2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4-93試驗D《交變濕熱試驗方法》
產(chǎn)品型號
GDJS-100
GDJS-225
GDJS-500
GDJS-800
GDJS-010
工作室尺寸(mm)
410×450×550
500×600×750
700×800×900
800×1000×1000
1000×1000×1000
溫度范圍(℃)
A:-20℃、B:-40℃、C:-60℃、D:-70℃~150℃
濕度范圍(%RH)
20%R.H~98%R.H
溫度波動度(℃)
±0.5℃
溫度均勻度(℃)
≤±2℃
濕度波動度(%RH)
±2.5%RH
濕度均勻度(%RH)
>75%RH:≤+2,-3%RH,B)<75%RH:≤±5%RH
升溫速率(℃)
3℃/min (空載時)
降溫速率(℃)
0.7~1℃/min (空載時)
溫濕度控制系統(tǒng)
進口液晶觸摸控制器
加熱加濕系統(tǒng)
鎳鉻合金絲型加熱器、UL形不銹鋼電鍍加熱器
制冷系統(tǒng)
1壓縮機:法國*泰康牌全封閉式壓縮機
2冷媒:環(huán)保冷媒R404A,臭氧層的破壞率為0 (ODP = 0.00)
3冷凝器:鰭片式附散熱馬達
4蒸發(fā)器:鰭片式多段式自動負載容量調(diào)整
5其它附件:干燥劑,修理閥,意大利進口卡士妥電磁閥
6膨脹系統(tǒng):容量自動控制節(jié)流降壓之冷凍系統(tǒng)
內(nèi)膽材質(zhì)
SUS#304不銹鋼板
外殼材質(zhì)
噴塑鍍鋅彩色鋼板
保溫材質(zhì)
超細玻璃纖維保溫棉
通訊功能
配備標準的RS232C/RS485通訊接口,傳輸距離1.2Km,通訊速度可達9600bps,可實現(xiàn)與計算機連接遠程監(jiān)控,操作方便。
附屬功能
故障報警及原因提示功能,故障名稱可更改,溫度上限保護功能,定時及預(yù)約(自動停止及自動啟動功能),多組(6組)P I D單獨分段控溫,曲線顯示及保存功能顯示PV曲線0-8天。溫度可以設(shè)定按線性運行(即可設(shè)定每小時升/降溫速度)
標準配置
1.電源線4.0 mm²x5蕊,低阻抗橡膠電纜線3m長1條
2.設(shè)備電氣原理圖一份
3.不銹鋼SUS #304方型沖孔鋼板置物架2片
4.不銹鋼可調(diào)整間距置物架軌道2組
5.節(jié)能照明燈1支
6.機體左側(cè)ψ50mm測試孔1個附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只。
7.標準測試用氣象紗布1卷
8.保險絲一套(易損件)
9.操作說明書一套
滿足標準
GB 10589-2008 《低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》
GB2423.3-2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4-93試驗D《交變濕熱試驗方法》