鍍層厚度分析儀也稱(chēng)作膜厚儀，測(cè)厚儀等，主要是用于檢測(cè)電鍍鍍層的厚度。
根據(jù)儀器的測(cè)試方法，一般有五類(lèi)儀器
1、磁性測(cè)厚儀
2、超聲波測(cè)厚儀
3、電解測(cè)厚儀
4、渦流測(cè)厚儀
5、X射線測(cè)厚儀
其中電解測(cè)厚儀對(duì)待測(cè)樣品有損傷，測(cè)試起來(lái)也比較麻煩，但是精度會(huì)相對(duì)高一些。相對(duì)前四種有的對(duì)待測(cè)樣有損傷，有的測(cè)試精度不夠高，X射線測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)也是很明顯的，不僅測(cè)試的精度高，對(duì)待測(cè)樣品的要求更少，而且操作更簡(jiǎn)單，還可以無(wú)接觸、無(wú)損檢測(cè)。但相對(duì)于前幾類(lèi)儀器的價(jià)格，卻是貴的。
X射線鍍層厚度分析儀
特點(diǎn)：
- 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測(cè)器（SDD），能高精度地測(cè)量較薄的鍍層
- 極耐用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，能以極出色的長(zhǎng)期穩(wěn)定性用于連續(xù)測(cè)量
- 可編程XY平臺(tái)和Z軸，用于自動(dòng)化連續(xù)測(cè)量
- 擁有實(shí)時(shí)的視頻顯示和輔助激光點(diǎn)，使得樣品定位變得快速而簡(jiǎn)便
應(yīng)用：
鍍層厚度測(cè)量
- 測(cè)量極薄鍍層，如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
- 測(cè)量汽車(chē)制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層
- 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量
應(yīng)用領(lǐng)域：
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)
手表、精密儀表制造行業(yè)
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)
其他樣品鍍層測(cè)試
性能優(yōu)勢(shì)：
下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。
高效率的接收器：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
儀器規(guī)格：
外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）
樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）
儀器重量 ：55kg
供電電源 ：交流220±5V
大功率 ：330W
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
