膜厚測(cè)量?jī)x | |||
通過(guò)薄膜表面與基底材料反射光的干涉現(xiàn)象,可快速可靠地測(cè)量半透明及透明膜的厚度。非接觸式測(cè)量,不會(huì)破壞測(cè)試樣品。 NanoCalc測(cè)試系統(tǒng)主要包括:寬帶光源、高性能線(xiàn)陣CCD光譜儀、傳輸光纖、樣品測(cè)試臺(tái)及測(cè)量分析軟件。NanoCalc膜厚測(cè)量?jī)x適合于在線(xiàn)膜厚測(cè)量,包括氧化層、氮化硅薄膜,感光膠片及其它類(lèi)型的薄膜,NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗膜涂層。
相關(guān)產(chǎn)品*: 色度計(jì)(ADMESY) SOLAR公司的波長(zhǎng)計(jì)SHR、SHR-IR波長(zhǎng)計(jì) 積分球(Labsphere) 溫控支架(Quantum Northwest)
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