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波蘭INFRAMET SWIR成像儀-ST
關(guān)鍵字描述：由于多種原因，SWIR成像儀（短波長紅外）是監(jiān)視電光成像儀的重要組成部分。
產(chǎn)品介紹：
由于多種原因，SWIR成像儀（短波長紅外）是監(jiān)視電光成像儀的重要組成部分。首先，InGaAs技術(shù)的進(jìn)步使設(shè)計(jì)成本相對較低的SWIR成像器成為可能。其次，InGaAs成像儀非常靈敏，即使在漆黑的夜晚也可以生成觀察到的風(fēng)景圖像。第三，與在可見/近紅外波段工作的電視攝像機(jī)相比，SWIR成像儀更不容易受到惡劣的大氣條件的影響。第四，即使使用比用于熱像儀設(shè)計(jì)的光學(xué)器件小得多的光學(xué)元件構(gòu)建，SWIR成像器也可以生成高分辨率圖像。 SWIR成像器通常使用觀察到的目標(biāo)反射的輻射來創(chuàng)建這些目標(biāo)的圖像，類似于電視攝像機(jī)。 SWIR成像儀還可以使用觀察到的目標(biāo)發(fā)出的熱輻射來創(chuàng)建這些目標(biāo)的圖像，例如熱成像儀。由于具有這些功能，可以使用測試電視攝像機(jī)的方法或測試熱像儀的方法來測試SWIR。 InGaAs FPA的參數(shù)也可用于表征SWIR成像儀。
Inframet建議通過以下三種方式來表征SWIR成像儀：a）測量電視攝像機(jī)的典型參數(shù)（分辨率，小可分辨對比度，MTF，失真，F(xiàn)OV，靈敏度，SNR，等效噪聲輸入，固定模式噪聲，不均勻性），b）測量熱成像儀的典型參數(shù)（MRT，MDT，MTF，NETD，F(xiàn)PN，不均勻性，畸變，F(xiàn)OV），c）測量InGaAs FPA模塊的參數(shù)（平均檢測度，等效噪聲輻照度，動態(tài)范圍）。
ST測試系統(tǒng)通常是可變目標(biāo)測量系統(tǒng)，它使用一系列不同的目標(biāo)將其圖像投影到測試的SWIR成像器的方向。成像器會生成投影圖像的變形副本。成像儀生成的圖像的質(zhì)量由觀察員或軟件進(jìn)行評估，并測量SWIR成像儀的重要特性。ST測試系統(tǒng)由反射式離軸準(zhǔn)直儀，寬帶光源，中溫黑體，電動轉(zhuǎn)輪，一組目標(biāo)，帶通濾波器，PC，圖像采集卡和測試軟件組成。

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