天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷(xiāo)波蘭INFRAMET SWIR成像儀-ST系列
波蘭INFRAMET SWIR成像儀-ST系列
關(guān)鍵字描述:由于多種原因,SWIR成像儀(短波長(zhǎng)紅外)是監(jiān)視電光成像儀的重要組成部分。
產(chǎn)品介紹:
由于多種原因,SWIR成像儀(短波長(zhǎng)紅外)是監(jiān)視電光成像儀的重要組成部分。首先,InGaAs技術(shù)的進(jìn)步使設(shè)計(jì)成本相對(duì)較低的SWIR成像器成為可能。其次,InGaAs成像儀非常靈敏,即使在漆黑的夜晚也可以生成觀(guān)察到的風(fēng)景圖像。第三,與在可見(jiàn)/近紅外波段工作的電視攝像機(jī)相比,SWIR成像儀更不容易受到惡劣的大氣條件的影響。第四,即使使用比用于熱像儀設(shè)計(jì)的光學(xué)器件小得多的光學(xué)元件構(gòu)建,SWIR成像器也可以生成高分辨率圖像。 SWIR成像器通常使用觀(guān)察到的目標(biāo)反射的輻射來(lái)創(chuàng)建這些目標(biāo)的圖像,類(lèi)似于電視攝像機(jī)。 SWIR成像儀還可以使用觀(guān)察到的目標(biāo)發(fā)出的熱輻射來(lái)創(chuàng)建這些目標(biāo)的圖像,例如熱成像儀。由于具有這些功能,可以使用測(cè)試電視攝像機(jī)的方法或測(cè)試熱像儀的方法來(lái)測(cè)試SWIR。 InGaAs FPA的參數(shù)也可用于表征SWIR成像儀。
ST測(cè)試系統(tǒng)通常是可變目標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),它使用一系列不同的目標(biāo)將其圖像投影到測(cè)試的SWIR成像器的方向。成像器會(huì)生成投影圖像的變形副本。
參數(shù):
準(zhǔn)直器
準(zhǔn)直器類(lèi)型:反射型,離軸
通光孔徑:從100 mm到200 mm
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