KARL DEUTSCH涂層測厚儀Leptoskop厚度儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現(xiàn)場升級的選項。
KARL DEUTSCH涂層測厚儀Leptoskop厚度儀用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度（根據(jù)DIN EN ISO 2178）并通過渦流法測量非磁性導電基材上的非導電涂層的厚度（根據(jù)DIN EN ISO 2360）。
應用
- 可靠的技術與舒適的工具相結合，例如將厚度值顯示為模擬指針，類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費選擇，可以滿足有抱負的用戶的所有愿望。
- LEPTOSKOP 2042是一款經(jīng)濟型儀器，電池使用壽命超過100小時。
- 該儀器會記錄操作時間和測量次數(shù)，因此這些重要參數(shù)本身可用于正確跟蹤測試設備。
- 供貨范圍內(nèi)包括彩色橡膠保護套，并具有防滑保護功能，可在工業(yè)環(huán)境中保護儀器。
特點：
- 大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米，帶照明
- 校準選項：
- 出廠前已校準，可立即進行測量
- 在未知涂層上校準*
- 零位校準*
- 在未涂覆的基材上進行一次和多箔校準*
- 校準涂層材料*
- 校準數(shù)據(jù)可以單獨存儲在單獨的校準文件中，也可以從那里重新加載。
- 可選擇的顯示模式，以家地適應測量任務*
- 輸入和監(jiān)控限額*
- 在Windows©下可以輕松管理文件來存儲讀數(shù)*
- 可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
- 統(tǒng)計*
- 統(tǒng)計評估多達999個讀數(shù)
- 小，大，平均值，讀數(shù)數(shù)量，標準偏差，限值監(jiān)控
- 局部厚度和平均涂層厚度（DIN EN ISO 2808）
- 在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值一目了然
選型：
LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別：
- 基本 -質(zhì)量可靠的基本功能
- 統(tǒng)計 -附加統(tǒng)計評估
- 統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲 -統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
- 如果需要，可以隨時將量規(guī)升級到高級和/或專業(yè)級別。升級過程通過代碼執(zhí)行，可以在現(xiàn)場輸入代碼以解鎖模塊“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲”。如果要為新的測量需求添加功能，則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進行升級或購買新儀表。
| 技術數(shù)據(jù) | |
| 串行接口 | 用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB |
| 電源 | 通過電池，USB或電源裝置 |
| 測量范圍 | 0-20000 µm（取決于探頭） |
| 測量率 | 每秒高達2個讀數(shù) |
| 存儲 | 高 9999個讀數(shù)（多140個文件） |
| 測量不確定度 （校準后） | 涂層厚度<100 µm：讀數(shù)的1％+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm：讀數(shù)的1.0.3％+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm：讀數(shù)的3..5％ /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm：讀數(shù)的5％+ /- 100 µm |
| 附件 | |
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