金相學(xué)主要指借助光學(xué)（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進(jìn)行分析研究和表征的材料學(xué)科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準(zhǔn)備和取樣方法。其主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯）的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。

      ZEISS一百多年的驕人歷史從發(fā)明世界上*顯微鏡開始。一個世紀(jì)后的今天，ZEISS仍致力于為用戶研發(fā)創(chuàng)造力的顯微鏡系列產(chǎn)品。通過我們不斷改進(jìn)的顯微技術(shù)，我們正在為*的用戶開拓一條探索微觀世界的道路。今天的顯微鏡與以往相比，它們的成像質(zhì)量更好、效率更高、機(jī)械性能更加穩(wěn)定，并且更加環(huán)保。

      總體描述：

      金相學(xué)的興起給金屬材料研究帶來了歷史性的變革，而蔡司*以來一直致力于金相顯微鏡的研發(fā)與應(yīng)用，并將金相學(xué)的科研水平推向一個又一個高點。2011年蔡司推出的金相顯微鏡Axio Lab.A1 mat再次為金相學(xué)的長足發(fā)展了提供檢測工具。

      蔡司分析級*材料顯微鏡Axio Lab.A1 mat將問世，打破了傳統(tǒng)分析級顯微鏡競爭格局，顛覆了現(xiàn)有分析級顯微鏡設(shè)計理念，采用蔡司*的ICCS光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，核心部件（物鏡、目鏡）均采用研究級顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)制作，有史以來次使得分析級顯微鏡也同樣具有了研究級顯微鏡的超高標(biāo)準(zhǔn)和成像質(zhì)量。分析級*材料顯微鏡Axio Lab.A1 mat必將是您日常檢驗及科研分析的。

技術(shù)參數(shù)：

      光學(xué)系統(tǒng)：ICCS光學(xué)系統(tǒng)，鏡體：FEM設(shè)計，ACR位置編碼
      1、物鏡倍數(shù)：5X 10X 20X 50X 100X
      2、目鏡倍數(shù)：10X
      3、物鏡轉(zhuǎn)盤： 5孔
      4、光源：鹵素?zé)?
      5、可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件)

特點：

      1、 明暗場五孔物鏡轉(zhuǎn)盤
      5孔物鏡轉(zhuǎn)盤提供充裕的操作空間—在保證您快速完成樣品檢測的同時讓您在選擇明場、暗場、偏光、DIC等物鏡時操作更加舒適。

      2、 采用Push&Click技術(shù)的4位功能模塊盒
      更加輕松容易的操作：使用Push&Click裝置方便地在不同觀察方式下分析觀察

      3、 光源
      機(jī)身上集成了一個50W的鹵素?zé)舴瓷涔庠?，能夠適應(yīng)廣泛地電壓范圍，此外，您也可以選擇使用LED燈源：恒定的色溫，低能耗和壽命長為其重要的優(yōu)點

      4、 優(yōu)化的光路（反射光）設(shè)計
      帶有孔徑光闌和市場光闌的色差校正光路為您的樣品提供的照明

      5、 在入門階段亦可掌握的微分干涉技術(shù)
      微分干涉技術(shù)C-DIC—這種對比技術(shù)可將樣品表面微小的形態(tài)變化轉(zhuǎn)換成光強(qiáng)度的變化，進(jìn)而為您提供出眾的對比度