| 品牌 | PANALYTICAL/帕納科 |
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帕納科Epsilon 3XLE 臺(tái)式能量色散型X射線熒光光譜儀構(gòu)建在其前代產(chǎn)品的經(jīng)驗(yàn)和成功的基礎(chǔ)之上，采用了激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)的成果。該儀器運(yùn)行穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便，對(duì)整個(gè)元素周期表中元素均具備的分析性能。帕納科Epsilon 3XLE 臺(tái)式能量色散型X射線熒光光譜儀依靠各種軟件模塊是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠、高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場(chǎng)合。
Epsilon 3XLE 具有如下特點(diǎn)：
通過(guò)智能激發(fā)和檢測(cè)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度
市場(chǎng)的輕元素性能
確保X射線安全
*的數(shù)據(jù)可追溯性
符合法規(guī)
在線支持
高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場(chǎng)合：Epsilon 3XLE - 具有改進(jìn)的和擴(kuò)展的輕元素功能（C - Am），用于實(shí)現(xiàn)更高的樣品生產(chǎn)量
Epsilon 3XLE 中配備的SDDultra硅漂移探測(cè)器甚至可以分析超輕元素，例如碳、氮和氧。
可以處理類型廣泛的樣品，包括固體、稀松或壓片粉末、液體和濾片，重量從幾毫克到更大的實(shí)體樣品不等。
廣泛應(yīng)用于石化產(chǎn)品、塑料和聚合物、環(huán)境、醫(yī)藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個(gè)行業(yè)領(lǐng)域。
Epsilon3X 光譜儀配有各種行業(yè)軟件可選：
Omnian - *的無(wú)標(biāo)樣分析軟件；針對(duì)多種不同類型未知材料樣品，實(shí)現(xiàn)快速可靠的定量分析。
Oil-Trace - 石化行業(yè)軟件；于解決對(duì)石油和石化進(jìn)行分析時(shí)常面臨的挑戰(zhàn)的創(chuàng)新軟件包。
Stratos - 涂層厚度軟件；Stratos模塊采用的算法可同步確定化學(xué)成分和分層材料的厚度。
FingerPrint - “指紋識(shí)別"軟件；采用快速的光譜數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析，可用于更全面的診斷分析的常規(guī)成分測(cè)定。
