1.使樣品與ATR晶體的反射面嚴(yán)密接觸，提高接觸效率，是獲得高質(zhì)量ATR譜圖。
2.ZnSe晶體適用PH范圍：5-9
紅外附件 ATR反射 衰減前反射 可拆液體池
紅外附件 ATR反射 衰減前反射 可拆液體池
紅外附件 ATR反射 衰減前反射 可拆液體池
ATR衰減全反射法
配置：ATR附件（即單次衰減全反射附件）
ATR附件 ATR附件
原理：
ATR附件基于光內(nèi)反射原理而設(shè)計(jì)。從光源發(fā)出的紅外光經(jīng)過(guò)折射率大的晶體再投射到折射率小的試樣表面上，當(dāng)入射角大于臨界角時(shí)，入射光線就會(huì)產(chǎn)生全反射。事實(shí)上紅外光并不是全部被反射回來(lái)，而是穿透到試樣表面內(nèi)一定深度后再返回表面。在該過(guò)程中，試樣在入射光頻率區(qū)域內(nèi)有選擇吸收，反射光強(qiáng)度發(fā)生減弱，產(chǎn)生與透射吸收相類似的譜圖，從而獲得樣品表層化學(xué)成份的結(jié)構(gòu)信息。
適用范圍：
常規(guī)的透射光譜可用壓片或液體池法進(jìn)行測(cè)量，但是對(duì)于某些特殊樣品，難熔、難溶及難粉碎的試樣（如塑料聚合物、橡膠等），透射光譜存在制樣困難的問(wèn)題。衰減全反射（Attenuated Total Refraction，ATR）紅外附件可以解決這些問(wèn)題。它具有制樣簡(jiǎn)單、無(wú)破壞性、檢測(cè)靈敏度高、對(duì)樣品大小及含水量無(wú)特殊要求、測(cè)量區(qū)域小等特點(diǎn)。
ATR法操作步驟如下：
1）將樣品直接放置于ATR附件的晶體和頂針之間，較平整的一面貼上ATR晶體上。
2）擰緊手扭，即可進(jìn)行樣品測(cè)試。再經(jīng)過(guò)傅立葉紅外變換紅外光譜儀測(cè)試，從而獲得樣品的光譜圖，再根據(jù)紅外圖譜的特征峰進(jìn)行定性分析。
注：ATR附件也可用來(lái)測(cè)試常規(guī)液體和固體粉末樣品。
測(cè)試完成后，一定要用無(wú)水乙醇將ATR的壓頭及其他附件等都要擦拭干凈，并保持樣品倉(cāng)清潔干凈。
適用范圍：
常規(guī)的透射光譜可用壓片或液體池法進(jìn)行測(cè)量，但是對(duì)于某些特殊樣品，難熔、難溶及難粉碎的試樣（如塑料聚合物、橡膠等），透射光譜存在制樣困難的問(wèn)題。衰減全反射（Attenuated Total Refraction，ATR）紅外附件可以解決這些問(wèn)題。它具有制樣簡(jiǎn)單、無(wú)破壞性、檢測(cè)靈敏度高、對(duì)樣品大小及含水量無(wú)特殊要求、測(cè)量區(qū)域小等特點(diǎn)。
