HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級(jí)光澤度和相對(duì)測(cè)量的科學(xué)級(jí)儀器,主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定,光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞??删_測(cè)量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值,以及鏡面反射率分布曲線。測(cè)量方式避免了相對(duì)測(cè)量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測(cè)板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測(cè)量誤差,測(cè)量更加可靠,系統(tǒng)角度精度高、測(cè)量重復(fù)性好。
主要特點(diǎn)
● 光澤度測(cè)量不確定度U≤0.7,(k=3),滿足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求;
● 光澤度和相對(duì)測(cè)量可選;
● 采用精密對(duì)準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)角度精確定位,角度精度高達(dá)0.01;
● 探測(cè)器接收立體角*符合ISO,ASTM,GB,TAPPI, JIS等標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量幾何要求,精確接收鏡面反射光;
● 光源與探測(cè)器通過濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V(λ);
● 掃描各角度的反射率分布曲線,還可以比較標(biāo)準(zhǔn)和被測(cè)樣品的表面分布差異。