實(shí)現(xiàn)紫外光譜輻照度的高精度測量
◆ 200-450nm紫外測試波段,紫外靈敏度更高,測量精度高
◆ 國家863(高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃)項(xiàng)目研究成果
◆ 獲美國發(fā)明*(號:US 7,978,324 B2)
◆ "*批自主創(chuàng)新產(chǎn)品","國家重點(diǎn)新產(chǎn)品"榮譽(yù)
主要功能:
1)可用于測量紫外光源、各燈光源紫外部分的相對光譜功率分布,峰值波長、半峰帶寬、A1波段( 320nm-390nm)光譜輻照度、A2波段(UV 365nm)光譜輻照度、B波段波長范圍:(290nm-320nm)光譜輻照度、C波段(UV253.7nm)和特定波段內(nèi)總輻照度等參數(shù),測量精度高,不受探測器匹配的影響。
2) 光譜分析法是理想的數(shù)字積分方法,不受被測光源光譜分布和探測器響應(yīng)帶寬函數(shù)的影響,是精度高的紫外輻射照度測量方法;
3) HAAS-2000以其高靈敏度和*穩(wěn)定性等優(yōu)異性能特別適合于精度要求*的測量場合,如紫外標(biāo)準(zhǔn)檢測或計(jì)量、光輻射安全測量、紫外領(lǐng)域科學(xué)研究等。