環(huán)境型原子力顯微鏡 AFM5300E
AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
特點
規(guī)格
應(yīng)用數(shù)據(jù)
特點
1. 環(huán)境控制功能（大氣，真空，液體，溫控等）
AFM5300E能夠?qū)崿F(xiàn)高真空的測試環(huán)境，大限度減小樣品表面吸附水對測試的影響，實現(xiàn)精確的物理特性測量。 真空環(huán)境下可以實現(xiàn)更大范圍的溫度控制。
（3857581號、3926638號）
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制 加熱?冷卻(-120～300℃) 高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)
2. 簡便操作（綜合型Holder Flange）
通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時，免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)。
3. 的高性能
采用了『Swing Cancel功能』，減輕了樣品的浮動，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。
4. 通過減輕表面吸附水的影響，提高了電氣性能的檢測精度
真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響，因而實現(xiàn)高分辨高靈敏的電學(xué)性能分析。
規(guī)格
| 分辨率 | 原子相 |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm) |
| 樣品移動范圍 | X-Y stage 5 mm |
| 掃描范圍 | 標(biāo)準： 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH（閉環(huán)差控制） 定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍） • 光學(xué)顯微鏡（×1000倍） • 變焦顯微鏡（×700倍） • 金相顯微鏡（裝有微分干渉）（×2000倍） |
| 檢測功能 |
|
| 選配件 | 高溫加熱樣品臺 加熱冷卻兼用樣品臺 冷卻真空 溫度控制 |
應(yīng)用數(shù)據(jù)
- Nd-Fe-B永磁鐵的離子研磨-SEM-SPM聯(lián)用觀察(PDF格式、705kBytes)
- SEM&SNDM對摻雜濃度進行分析(PDF格式、735kBytes)
- SNDM功能觀察SiC器件截面的摻雜濃度(PDF格式、792kBytes)
- SEM和SPM聯(lián)用在橡膠材料研究方面的應(yīng)用(PDF格式、876kBytes)
- 大氣和真空環(huán)境下SPM測量樣品功函的差異(PDF格式、422kBytes)
- 離子研磨儀在Nd-Fe-B磁鐵的SPM觀察中的應(yīng)用(PDF格式、922kBytes)
- 離子研磨儀在鋰離子電池的掃描探針顯微鏡觀察中的應(yīng)用(PDF格式、752kBytes)
- 鋰離子電池電極材料通過真空轉(zhuǎn)移系統(tǒng)實現(xiàn)離子研磨截面加工?SEM-SPM同一視野觀察(PDF格式、1302 kBytes)
應(yīng)用數(shù)據(jù)
介紹掃描探針顯微鏡的應(yīng)用數(shù)據(jù)。
說明
解說掃描式隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM)等的原理和各種狀態(tài)原理。
歷史和SPM發(fā)展
描述我們的掃描探針顯微鏡和我們的設(shè)備的歷史和發(fā)展。(Global site)
