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公司介紹主營產(chǎn)品

專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】產(chǎn)品技術(shù)支持工程師-堅JET與吉時利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】產(chǎn)品技術(shù)支持工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術(shù)應(yīng)用為特色的代理貿(mào)易公司，專注工業(yè)測試行業(yè)十六年，志在破舊立新！*進口儀器設(shè)備大多廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點，但技術(shù)支持薄弱或沒有，而代理經(jīng)銷商也只專做銷售，不專業(yè)做售前技術(shù)答疑/測試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗，以我們“靠技術(shù)！賣儀器！”這**的經(jīng)營理念，專業(yè)為祖國用戶提供儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計量服務(wù)，為行業(yè)里一家有技術(shù)工程師的以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。經(jīng)營品牌及產(chǎn)品一、測試技術(shù)方案【我們結(jié)合客戶實際使用，寫有上百篇技術(shù)測試應(yīng)用文章】：I2C、SPI、CAN、FlexRay、WTB、UART、eMMC總線協(xié)議測試解碼、半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測試、表面電阻/體積電阻率測試、防靜電電阻/靜電場/消散衰減測試、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測試、MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析、電化學(xué)工作站恒電位儀、ESD靜電放電/EMC電磁兼容/傳導(dǎo)輻射抗擾/雷擊浪涌、耐壓絕緣安規(guī)測試、高低溫恒溫恒濕/冷熱沖擊試驗、新能源汽車/電池測試、材料切割鑲樣磨拋......二、環(huán)境可靠性試驗：愛斯佩克ESPEC/慶聲KSON/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Votsch/賓德BINDER烘箱、高低溫試驗箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊試驗箱、鹽霧試驗箱、步進式試驗室、除濕防潮氮氣柜、跌落機、沖擊試驗機、振動試驗臺、*試驗機。三、靜電檢測消除：DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測試儀、靜電場測試儀、離子風(fēng)機、防靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測試儀、JCI電荷電量庫侖計、MET ONE百級潔凈實驗室粒子計。四、電子測量儀器：是德KEYSIGHT/吉時利KEITHLEY/愛德萬ADCMT/**/致茂Chroma/BK PRECISION交直流電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集儀、皮安表、源表、靜電計、微電阻歐姆計、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、函數(shù)信號發(fā)生器、示波器、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀。電參數(shù)測量儀、電能質(zhì)量分析儀、電池測試儀、高斯計、AM/FM信號發(fā)生器。孕龍ZEROPLUS邏輯分析儀、穩(wěn)科Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EXTECH/高美GMC-I耐壓絕緣接地泄漏安規(guī)測試儀。五、生化實驗儀器：ThermoFisher賽默飛X射線熒光分析儀、博勒飛BrookField粘度計、流變儀、哈希HACH水質(zhì)分析儀、沃特世Waters色譜儀、質(zhì)譜儀、光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER天平、電導(dǎo)率儀、分光光度計。艾卡IKA/賽多利斯Sartorius/奧豪斯OHAUS/搖床、分散機、研磨機、干浴器、加熱鍋、旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀、離心機、實驗室反應(yīng)器、發(fā)酵罐、量熱儀、分析天平、冷凍恒溫培養(yǎng)搖床、振蕩器、水分測定儀。愛色麗X-rite/電度色差儀、標(biāo)準(zhǔn)光源箱、霧度計、濁度計、水質(zhì)計。日本新宇宙COSMOS潤滑油脂鐵粉濃度計。六、金相設(shè)備耗材：賀利氏Heraeus/科密特Kemet(Metkon)切割機、研磨拋機、鑲嵌機、顯微鏡、硬度計。企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實際測試使用寫有《集成芯片I2C、SPI測試》、《存儲器SD3.0、eMMC5.1測試》、《電腦周邊USB2.0、UART測試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測試》、《MVB、WTB總線軌道交通測試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》、《音視頻多媒體I2S、HDMI、S/PDIF測試》、《GB/T國標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測試方案》、《防靜電地板/臺面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測試評估》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》、《新材料*半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實驗系統(tǒng)工作站測量線性掃描伏安特性CV、電流-時間曲線I-t、電勢、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號采集/射頻微波測試》、《音視頻綜合測試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測試》、《鑲嵌機、磨拋機在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測試》、《磁導(dǎo)率測量magnetic permeability》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機測試方案》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測試》、《光電子/納米電子器件測試》、《LED照明測試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測試》、《機電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測測試系統(tǒng)》、《電氣耐壓絕緣接地電阻泄漏電流測試》、《干濕球、不飽和、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗》、《IC芯片高低溫/恒溫恒濕/冷熱沖擊試驗》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻。堅忍不拔圓融通達(dá)是我們秉承的理念，嚶其鳴矣求其友聲我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠的合作，為祖國工業(yè)測試行業(yè)“添磚加瓦”！

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產(chǎn)品簡介在線詢價

專業(yè)為祖國用戶提供美國吉時利KEITHLEY 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

吉時利KEITHLEY 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀產(chǎn)品詳情

專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent技術(shù)工程師-堅JET和吉時利KEITHLEY應(yīng)用工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術(shù)支持為特色的代理貿(mào)易公司，志在破舊立新！*進口儀器設(shè)備大多廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點，技術(shù)支持薄弱或者沒有，而代理經(jīng)銷商也只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前儀器設(shè)備選型配置/測試方案系統(tǒng)搭建，不專業(yè)做售后操作使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)保養(yǎng)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗，以我們**的經(jīng)營理念，專業(yè)為祖國用戶提供儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

美國吉時利KEITHLEY 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀進行范德堡和霍爾電壓測量 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用4200A-SCS和范德堡方法測量半導(dǎo)體材料的電阻系數(shù)。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀進行電荷泵測量 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用4200A-SCS及選配的4225-PMU超快速I-V模塊(PMU)或4220-PGU脈沖發(fā)生器單元(PGU)進行電荷泵測量。

使用吉時利Model 4200-SCS參數(shù)分析儀進行晶圓級可靠性測試

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀及斜率方法進行準(zhǔn)靜態(tài)C-V測量 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用4200A-SCS和斜率方法實現(xiàn)和優(yōu)化準(zhǔn)靜態(tài)C-V測量。

電阻系數(shù)測量及材料特性分析技術(shù) - NEW

4200A-SCS 電阻系數(shù)測量及材料特性分析技術(shù)本材料特性分析應(yīng)用指南提供了各種技術(shù)小貼士，根據(jù)材料類型、形狀和厚度及電阻幅度，為電阻系數(shù)測量選擇四點共線探頭或范德堡方法。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀分析MOS電容器的C-V特點

本應(yīng)用指南討論了怎樣使用配備4210-CVU集成C-V選項的Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀對MOS電容器進行C-V測量，另外還介紹了MOS管基本原理，對MOS電容器執(zhí)行C-V測量，提取常用C-V參數(shù)，以及各種測量技術(shù)。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀在高阻抗器件上執(zhí)行超低頻率電壓-電壓測量 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了VLF C-V技術(shù)，闡述了怎樣連接被測器件(DUT)，說明了怎樣使用提供的軟件，描述了怎樣使用Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀優(yōu)化VLF C-V測量。

測量通道有效移動性的超快速單脈沖(UFSP)技術(shù) - NEW

本應(yīng)用指南介紹了準(zhǔn)確評估移動性的一種新型超快速單脈沖技術(shù)(UFSP) [4, 5]，同時介紹了怎樣連接器件，怎樣使用4200A-SCS參數(shù)分析儀中的Clarius軟件。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀優(yōu)化低電流測量 -NEW

本應(yīng)用指南介紹了吉時利為使用4200A-SCS優(yōu)化低電流測量提供的**的方法和*設(shè)備。

使用4200A-CVIV多開關(guān)和4200A-SCS參數(shù)分析儀在C-V測量和I-V測量之間切換 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣在同一器件上簡便地進行I-V測量和C-V測量，而無需改變電纜，避免引入錯誤或損壞器件。

使用Model 4225-RPM遠(yuǎn)程放大器/開關(guān)，在DC I-V、C-V和脈沖式I-V測量之間自動切換 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用4225-RPM在SMU、CVU和PMU之間切換，在單個器件上進行DC I-V、C-V和脈沖式I-V測量。特別是，它介紹了硬件連接及怎樣使用系統(tǒng)軟件Clarius配置和執(zhí)行測試。

使用4200-CVU-PWR C-V功率分析軟件包及4200A-SCS參數(shù)分析儀執(zhí)行高電壓和高電流C-V測量 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用Keithley 4200A-SCS、4210-CVU和4200-CVU-PWR C-V功率分析軟件包實現(xiàn)和優(yōu)化高C-V測試。

半導(dǎo)體特性分析方法和技術(shù) - NEW

4200A-SCS 半導(dǎo)體特性分析方法和技術(shù)應(yīng)用指南本半導(dǎo)體特性分析應(yīng)用指南提供了各種小貼士和技術(shù)，讓您了解DC半導(dǎo)體器件性能，幫助您應(yīng)對可能阻礙測量及引入錯誤的各種挑戰(zhàn)。

元器件和半導(dǎo)體器件的DC I-V測試

本DC I-V測試應(yīng)用電子指南包含著大量的應(yīng)用指南，介紹了使用吉時利Model 4200-SCS參數(shù)分析儀進行DC IV-測試的方法和技巧。Model 4200-SCS提供了各種I-V測量，包括p*泄漏電流測量和µΩ級電阻測量。應(yīng)用指南 09 Nov 2018

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀分析光伏材料和太陽能電池的電氣特點 - NEW

DC和脈沖式電流-電壓(I?V)、電容-電壓(C?V)、電容-頻率(C-f)、驅(qū)動電平電容曲線(DLCP)、四探頭電阻系列(ρ,σ)和霍爾電壓(VH)測量本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用4200A-SCS參數(shù)分析儀在光伏電池上進行各種電氣測量，包括DC和脈沖式電流-電壓(I?V)、電容-電壓(C?V)、電容-頻率(C-f)、驅(qū)動電平電容曲線(DLCP)、四探頭電阻系列(ρ,σ)和霍爾電壓(VH)測量。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀和四點共線探頭測量半導(dǎo)體材料的電阻系數(shù) - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用4200A-SCS及四點共線探頭對半導(dǎo)體材料進行電阻系數(shù)測量。

Touch, Test, Invent，采用下一代電流和電壓源測量儀器

吉時利為電化學(xué)測試方法和應(yīng)用提供的儀器

本應(yīng)用指南討論了如何采用吉時利儀器進行電化學(xué)科學(xué)研究。

非易失性內(nèi)存的脈沖I-V特性分析技術(shù) - NEW

本應(yīng)用指南簡要回顧了非易失性內(nèi)存(NVM)的發(fā)展歷史，概括介紹了分析NVM材料和器件電氣特點所需的測試參數(shù)，闡述了Model 4225-PMU超快速I-V模塊及Model 4225-RPM遠(yuǎn)程放大器/開關(guān)的功能（這是為用于吉時利Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)設(shè)計的兩種儀器選項）。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀測量碳納米管晶體管(CNT FETs)的電氣特點 - NEW

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用4200A-SCS參數(shù)分析儀優(yōu)化CNT FET上的DC、脈沖式I-V和C-V測量。它詳細(xì)介紹了在測試碳納米管晶體管時探頭布線和連接、保護、屏蔽、降噪技術(shù)及其他重要測量考慮因素。

*半導(dǎo)體器件與材料特性分析系統(tǒng) – 4200-SCS 的技術(shù)進展

使用Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)分析光伏材料和太陽能電池的電氣特點

尋找當(dāng)今解決方案，迎接未來納米特性分析挑戰(zhàn)

吉時利正幫助推動越來越多的納米科技應(yīng)用向前發(fā)展。我們?yōu)檎{(diào)查新材料和新器件屬性開發(fā)的解決方案是為直觀操作而設(shè)計的，因此您可以迅速簡便地獲得所需結(jié)果。手冊 04 Feb 2017

吉時利脈沖解決方案

本指南旨在幫助您確定包括適合您應(yīng)用要求的脈沖源的吉時利解決方案。

分析RF功率晶體管的電氣特點

本應(yīng)用指南概括介紹了通信行業(yè)中較常用的RF晶體管的DC特性分析。盡管新型放大器設(shè)計和材料發(fā)展迅速，但必需指出的是，測試儀器變化并不大，而器件的特點卻發(fā)生了明顯變化。

利用4200-SCS進行四探頭電阻與霍爾電壓測試

評估MOSFET器件熱載波感應(yīng)的劣化

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用吉時利Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)，利用所需的關(guān)鍵功能測量熱載波感應(yīng)的劣化。

評估氧化物可靠性

本應(yīng)用指南介紹了怎樣使用吉時利Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)執(zhí)行氧化物可靠性測試。

Model 4225-PMU超快速I-V模塊的超快速I-V應(yīng)用

4225-PMU是為4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)提供的多個模塊之一。根據(jù)應(yīng)用要求，系統(tǒng)可以配置成包括精密DC源測量單元系統(tǒng)、DC預(yù)放、多頻率C-V表和脈沖發(fā)生器，使得4200-SCS成為完整的全內(nèi)置特性分析工具。應(yīng)用指南 08 Aug 2016

測量通道有效移動性的超快速單脈沖技術(shù)

本應(yīng)用指南介紹了準(zhǔn)確評估移動性的一種新型超快速單脈沖技術(shù)，包括技術(shù)原理、怎樣連接器件、以及怎樣使用Model 4200-SCS中提供的軟件

半導(dǎo)體元器件C-V測試 - 應(yīng)用指南

本C-V測試應(yīng)用電子指南包含大量的應(yīng)用指南，介紹了使用吉時利Model 4200-SCS參數(shù)分析儀的C-V測試方法和技術(shù)。

元器件和半導(dǎo)體器件的脈沖式I-V測試 - 應(yīng)用指南

本脈沖式I-V測試應(yīng)用電子指南包括大量的應(yīng)用指南，介紹了使用Model 4200-SCS參數(shù)分析儀進行脈沖式I-V測試的方法和技術(shù)。

ACS集成測試系統(tǒng)，實現(xiàn)基于實驗室的自動化操作

產(chǎn)品開發(fā)周期和測試成本壓力不斷提高，意味著測試工程師必須用更少的投入做更多的工作。通過采用吉時利經(jīng)過驗證的儀器和測量功能，ACS綜合測試系統(tǒng)添補了基于交互式實驗室的工具與高吞吐量生產(chǎn)測試工具之間的重要空白。應(yīng)用指南 08 Aug 2016

探測集成電路觸點級晶體管

Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)

使用Mode 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)在高阻抗器件上執(zhí)行超低頻電容-電壓測量

使用晶圓圖參數(shù)選項及Cascade Nucleus探頭軟件和Model 4200-SCS

使用低噪聲Model 4200-SCS進行超低電流測量

使用Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)分析MOS電容器的C-V特點

使用Model 4200-CVU-PWR C-V功率分析軟件包及Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)進行高電壓和高電流C-V測量

適用于Model 4200-SCS：分析NVM特性，測量VLF C-V，同時進行更多的脈沖式或超快速I-V測量

使用Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)進行太陽能/光伏電池I-V和C-V測量

使用吉時利Model 4200-SCS監(jiān)測MOSFET器件的通道熱載波(CHC)劣化

使用Model 4200-SCS和Zyvex S100納米操縱裝置進行納米線和納米管I-V測量

使用Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)優(yōu)化低電流測量

使用Model 4200分析柵極介電電容-電壓特性

使用4200-CVU電容-電壓單元測量電感

改善Model 4200-SCS的測試速度和整體測試時間

使用Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)和Series 3400脈沖/碼型發(fā)生器進行電荷泵測量

使用Model 4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)執(zhí)行電荷泵測量

修改吉時利互鎖電纜236-ILC-3，用于Cascade 12000系列半自動探頭

利用4200-SCS型參數(shù)分析儀，對碳納米管晶體管(CNT FET)進行電氣特性分析

親眼見證創(chuàng)新！ 4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成的參數(shù)分析儀，可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈沖式I-V 特性。 4200A-SCS 加快了半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)速度。

4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的軟件提供了清楚的、不折不扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業(yè)知識和數(shù)百項隨時可以投入使用的應(yīng)用測試，Clarius Software 可以更深入地挖掘研究過程，快速而又滿懷信心。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進行靈活配置，不管是現(xiàn)在還是未來，都可以隨時對系統(tǒng)進行升級。通過 4200A-SCS 參數(shù)分析儀，通往發(fā)現(xiàn)之路現(xiàn)在變得異常簡便。

美國吉時利KEITHLEY 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀主要性能指標(biāo)

I-V 源測量單元(SMU)

± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊

100 fA測量分辨率

選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率

10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量

四象限操作

2 線或 4 線連接

C-V 多頻率電容單元(CVU)

AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)

1 kHz - 10 MHz 頻率范圍

± 30 V (60 V差分)內(nèi)置DC偏置源，可以擴展到± 210 V(420 V 差分)

選配 CVIV 多通道開關(guān)，在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)

兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道

200 MSa/s，5 ns 采樣率

±40 V (80 V p-p)，±800 mA

瞬態(tài)波形捕獲模式

任意波形發(fā)生器 Segment ARB® 模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率

高壓脈沖發(fā)生器單元(PGU)

兩個高速脈沖電壓源通道

±40 V (80 V p-p)，± 800 mA

任意波形發(fā)生器 Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關(guān)模塊 (CVIV)

在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換，無需重新布線或抬起探針

把 C-V測量移動到任意端子，無需重新布線或抬起探針遠(yuǎn)程前端放大器/ 開關(guān)模塊(RPM)

在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換

把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數(shù)十皮安

降低電纜電容效應(yīng)

為材料、半導(dǎo)體器件和工藝開發(fā)提供優(yōu)秀的參數(shù)分析儀

使用強大的Clarius 軟件，可以更加快速的完成I-V, C-V 和脈沖I-V 測試，結(jié)果清晰明了

直流電流-電壓

(I-V) 范圍

10 aA - 1A

0.2 µV - 210 V

電容-電壓

(C-V) 范圍

1 kHz - 10 MHz

± 30V 直流偏置

脈沖 I-V

范圍

±40 V (80 V p-p)，±800 mA

200 MSa/s，5 ns 采樣率

大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。另外，嵌入式測量專業(yè)知識可提供測試指南并讓您對結(jié)果充滿信心。

特點

內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

使用數(shù)百個用戶可修改應(yīng)用測試開始您的測試

自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

測量、切換、重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。

無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端

用戶可配置低電流功能

個性化輸出通道名稱

查看實時測試狀態(tài)

檢定、自定義、 *。

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簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級，您可以對半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。

NBTI/PBTI 測試

隨機電報噪聲

非易失內(nèi)存設(shè)備

穩(wěn)壓器應(yīng)用測試

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

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4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

“點擊”測試定序

“手動”探測器模式測試探測器功能

假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試

降低成本并保護您的投資

產(chǎn)品技術(shù)資料型號說明

查看規(guī)格書 4200A-SCS-PK1

高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率

對于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備

4200A-SCS-PK2

高分辨率 IV 和 CV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz

對于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備

4200A-SCS-PK3

高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz

對于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(2) 4210-SMU

(2) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備

4200-BTI-A

超快 NBTI/PBTI 套件用于使用* CMOS 技術(shù)套件進行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：

(1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊

(2) 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開關(guān)模塊

自動化檢定套件 (ACS) 軟件

超快 BTI 測試項目模塊

電纜

半導(dǎo)體可靠性

在執(zhí)行復(fù)雜的可靠性測試時，4200A-SCS 可以幫您處理復(fù)雜的編碼工作。內(nèi)含熱載波注入劣化 (HCI) 等項目，使您能夠快速開始設(shè)備分析。

評估 MOSFET 設(shè)備的熱載波感應(yīng)劣化

特點

只需一組測試，即可滿足您的直流 I-V、C-V 和脈沖測量需求

支持多種探頭站和外部儀器

循環(huán)系統(tǒng)易于使用，允許在無需編碼的情況下重復(fù)測試

提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。該技術(shù)可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現(xiàn)應(yīng)用，同時可與 4210-CVU 結(jié)合使用，執(zhí)行更高頻率測量。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可在高阻抗設(shè)備上執(zhí)行極低頻電容-電壓測量

簡化 MOSFET/MOSCAP 設(shè)備檢定的提示和技術(shù)

0.01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度

3½ 位典型分辨率，*小典型值 10 fF

非易失內(nèi)存

通過全面脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測試，從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。

非易失內(nèi)存技術(shù)脈沖 I-V 檢定

VCSEL 測試

4200A-SCS 中的多個并行源測量單元 (SMU) 儀器可簡化激光二極管測試。僅使用一臺機器連接即可生成 LIV（光強-電流-電壓）曲線。高級探頭站和開關(guān)支持使您能夠使用相同的儀器對單個二極管或整個陣列進行晶圓生產(chǎn)測試。 SMU 可配置為高達(dá) 21 W 容量，適用于多種連續(xù)波 (CW) VCSEL 應(yīng)用。

納米級設(shè)備檢定

4200A-SCS 的集成儀器功能可簡化碳納米管等納米級電子器件開發(fā)方面的測量要求。從預(yù)配置測試項目開始著手，逐步擴大您的研究工作范圍。 SMU 的脈沖源模式可幫助緩解過熱問題，數(shù)秒內(nèi)即可完成與低電壓 C-V 和超快速脈沖直流測量的組合。

碳納米管晶體管 (CNT FET) 的電氣檢定

材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過四點同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。內(nèi)含測試可自動重復(fù)執(zhí)行范德堡計算，節(jié)省您寶貴的研究時間。10aA 的*電流分辨率和大于 1016 歐姆的輸入阻抗可提供更準(zhǔn)確和精準(zhǔn)的結(jié)果。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀和四點同軸探頭可用于執(zhí)行半導(dǎo)體材料電阻率測量

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可用于執(zhí)行范德堡和霍爾電壓測量

MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過組件或晶圓測試執(zhí)行全面的 MOS 設(shè)備檢定。內(nèi)含測試和項目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動離子濃度等問題。只需觸摸一個儀器盒中的按鈕，即可運行所有這些測試。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可用于執(zhí)行 MOS 電容 C?V 檢定

模塊說明

4200-BTI-A 超快速 BTI 包

4200-PA 遠(yuǎn)程預(yù)放大器模塊

4200-SMU 率源測量單位

4200A-CVIV I-V/C-V 多開關(guān)模塊

4210-CVU 電容-電壓單位

4210-SMU 大功率源測量單元

4220-PGU 高電壓脈沖發(fā)生器單元

4225-PMU 超快速脈沖測量單位

4225-RPM 遠(yuǎn)程預(yù)放大器/開關(guān)模塊

4200-SMU-R 可現(xiàn)場更換的 MPSMU

4210-SMU-R 可現(xiàn)場更換的 HPSMU

關(guān)鍵詞：測量儀發(fā)生器電容器連接器任意波形發(fā)生器

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
煙氣含濕量檢測器	￥8000	青島市	青島路博建業(yè)環(huán)?？萍加邢薰?/span>	2024-11-14	在線詢價
自動測量圖像尺寸設(shè)備	￥560000	深圳市	深圳市中圖儀器股份有限公司	2024-08-11	在線詢價
羅卓尼克USB接口水活性快速測量探頭	面議	無錫市	無錫徽科特測控技術(shù)有限公司	2024-07-09	在線詢價
高通量實時熒光檢測分析系統(tǒng)	面議	上海市	美谷分子儀器（上海）有限公司	2024-02-28	在線詢價
激光功率測量系統(tǒng) LPMS	面議		上海倍藍(lán)光電科技有限公司	2024-04-23	在線詢價
水分活度測量儀廠商	面議	常州市	常州金壇泰納儀器廠	2024-08-29	在線詢價

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