實(shí)驗(yàn)室冷熱沖擊箱主要用于測(cè)試成品、半成品或原材料對(duì)極冷或極熱的環(huán)境溫度抵抗力,因?yàn)橐髽O短的沖擊時(shí)間,所以不管是制熱還是制冷都需要大功率、高技術(shù)、高成本來(lái)制作,這樣可以超仿真現(xiàn)實(shí)環(huán)境中因熱脹冷縮所引起的物理傷害,采用微電腦PID系統(tǒng),利用低溫及高溫蓄冷熱儲(chǔ)存槽,依動(dòng)作需要打開(kāi)對(duì)應(yīng)儲(chǔ)溫槽的閥門,將儲(chǔ)存槽內(nèi)之冷熱溫度導(dǎo)入測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品箱內(nèi)從而達(dá)到快速冷熱沖擊測(cè)試的效果,平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)+ 特殊設(shè)計(jì)之送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用。
實(shí)驗(yàn)室冷熱沖擊箱主要參數(shù):
1.溫度儲(chǔ)存范圍:高溫箱:+60℃~200℃;
2.溫度儲(chǔ)存范圍:低溫箱::0℃~-75℃;
3.冷熱老化可設(shè)定沖擊的溫度有三段可選:+150~-40℃
4.溫度波動(dòng)度:±0.5℃;
5.溫度均勻:±2℃;
6.升溫速率:≤5℃/min; (全程平均)
7.降溫速率:≤5℃/min (全程平均)
8.預(yù)冷下限溫度:≤-50℃;
9.沖擊恢復(fù)時(shí)間:高溫(80℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘;沖擊恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi).
10.結(jié)構(gòu)材質(zhì):整臺(tái)測(cè)試設(shè)備為進(jìn)口SUS優(yōu)質(zhì)304不銹鋼板霧面處理(個(gè)別客戶有選擇鋼板烤漆加色處理),內(nèi)箱均為進(jìn)口SUS#304不銹鋼,配件:測(cè)試孔(φ50×1只),試料架(2組)。
11.冷凍系統(tǒng):復(fù)疊水冷式歐美法國(guó)泰康全封閉或德國(guó)比澤爾半密閉式壓縮機(jī)組.此兩壓縮機(jī)始終以質(zhì)量高,耗電低,使用壽命長(zhǎng),運(yùn)行穩(wěn)定而立不敗之地。
12.控制器:大型LED彩色觸控人機(jī)界面控制器or單顯LED觸控人機(jī)接口控制器.
13.必配的安全保護(hù)裝置:超壓、加熱干燒無(wú)熔絲過(guò)載保護(hù)器,壓縮機(jī)過(guò)熱、過(guò)流 箱內(nèi)超溫警報(bào)系統(tǒng).
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法:
1)GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
3)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
4)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
5)GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn);
6)GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn);
7)GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。