Loop 測試
自動搜尋 IC 編號功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護功能
可量測之 IC 種類超過 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可測 Pin 數(shù) : 28 Pin
規(guī) 格 | |
測試范圍 | 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量測種類 | 約 1800 種 |
測試電壓 | 5V DC |
測試時間 | 高測試速度,平均 0.8 秒可完成一個 IC |
使用電源 | 交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
附件 | 電源線 x 1, 操作手冊 x 1 |
尺寸及重量 | 335(寬) x 105(高) x 300(長) mm, 約 1.5 公斤 |
機 種 | 主要功能或用途 |
GUT - 6000A | 數(shù)位IC測試器 |
GUT - 6600 | 掌上型數(shù)位IC測試器 |
GUT - 6001 | 類比IC測試器 |
Loop 測試
自動搜尋 IC 編號功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護功能
可量測之 IC 種類超過 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可測 Pin 數(shù) : 28 Pin
規(guī) 格 | |
測試范圍 | 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量測種類 | 約 1800 種 |
測試電壓 | 5V DC |
測試時間 | 高測試速度,平均 0.8 秒可完成一個 IC |
使用電源 | 交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
附件 | 電源線 x 1, 操作手冊 x 1 |
尺寸及重量 | 335(寬) x 105(高) x 300(長) mm, 約 1.5 公斤 |
機 種 | 主要功能或用途 |
GUT - 6000A | 數(shù)位IC測試器 |
GUT - 6600 | 掌上型數(shù)位IC測試器 |
GUT - 6001 | 類比IC測試器 |