型號：OE750直讀光譜儀
品牌：日立
產(chǎn)地：德國
日立新型OE750直讀光譜儀是一款突破性的新型OES金屬分析儀。高性能金屬分析，其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中較低的檢出限。
由于行業(yè)法規(guī)日益嚴格，供應鏈變得復雜以及更多地使用廢料作為基礎材料，因此鑄造廠和金屬制造商必須將雜質(zhì)和痕量元素控制在較低ppm范圍內(nèi)。在過去，這一級別的OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。 這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量極低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。
OE750的測量速度快、可靠性高且運營成本低，可進行高性價比的日常分析和全面質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。
| 使用CMOS光學系統(tǒng)和優(yōu)化的像素分辨率，分辨率是傳統(tǒng)CCD檢測器的2倍
| 產(chǎn)地：德國
| 焦距: 400 mm
| 的中壓力真空系統(tǒng)，能耗低，同時保證光室的潔凈度
| 市面上較大規(guī)模的金屬數(shù)據(jù)庫GRADEBASE
| 的PPA實時波長校正技術(shù)，減少日常漂移，較好的環(huán)境適用性
| 波長覆蓋: 119 - 766 nm
| 新的4項技術(shù)，包括但不限于新型蝴蝶光室設計，新型火花臺密封技術(shù)等。
品牌：日立
產(chǎn)地：德國
日立新型OE750直讀光譜儀是一款突破性的新型OES金屬分析儀。高性能金屬分析，其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中較低的檢出限。
由于行業(yè)法規(guī)日益嚴格，供應鏈變得復雜以及更多地使用廢料作為基礎材料，因此鑄造廠和金屬制造商必須將雜質(zhì)和痕量元素控制在較低ppm范圍內(nèi)。在過去，這一級別的OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。 這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量極低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。
| 使用CMOS光學系統(tǒng)和優(yōu)化的像素分辨率，分辨率是傳統(tǒng)CCD檢測器的2倍
| 產(chǎn)地：德國
| 焦距: 400 mm
| 的中壓力真空系統(tǒng)，能耗低，同時保證光室的潔凈度
| 市面上較大規(guī)模的金屬數(shù)據(jù)庫GRADEBASE
| 的PPA實時波長校正技術(shù)，減少日常漂移，較好的環(huán)境適用性
| 波長覆蓋: 119 - 766 nm
| 新的4項技術(shù)，包括但不限于新型蝴蝶光室設計，新型火花臺密封技術(shù)等。
