X-Strata920 X熒光鍍層膜厚儀介紹

X-Strata920膜厚儀：是牛津儀器新開(kāi)發(fā)的新一代鍍層膜厚儀，是CMI900膜厚儀的升級(jí)產(chǎn)品，將逐漸取代膜厚儀CMI900，是X射線熒光(XRF)鍍層膜厚儀，無(wú)損測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，快速簡(jiǎn)潔只需要10秒即可得出測(cè)量結(jié)果，是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的檢測(cè)工具。應(yīng)用行業(yè)不一樣，有著多種稱(chēng)謂：金鎳膜厚儀、LED膜厚儀、金銀膜厚儀、X射線膜厚儀、X-Ray膜厚儀、臺(tái)式膜厚儀……

X-Strata920膜厚儀應(yīng)用行業(yè)：

PCB、FPC、LED支架和封裝、連接器、端子、電子元件、五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車(chē)零部件、裝飾件、首飾飾品等多個(gè)行業(yè)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和科研院校。

X-Strata920膜厚儀工作原理：

對(duì)被測(cè)樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過(guò)測(cè)量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y(cè)材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

X-Strata920膜厚儀的工作特點(diǎn)：

1.測(cè)量時(shí)間約10秒，快速無(wú)損得出測(cè)量結(jié)果，進(jìn)行非破壞的能量色散X射線熒光（EDXRF）分析；

2.測(cè)量元素為鈦Ti22—鈾U92間各元素，范圍寬廣；

3.同時(shí)測(cè)量5層鍍層（含基材鍍層），15種元素共存校正；

4.測(cè)量精度高，結(jié)果精確到微英寸；

5.測(cè)量結(jié)果報(bào)告可直接打印或輸出到PDF、Excel文檔；

6.測(cè)量結(jié)果報(bào)告中可包含：數(shù)據(jù)、被測(cè)樣品點(diǎn)圖片、各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表；可使用系統(tǒng)預(yù)置的報(bào)告模板和客戶自定義的報(bào)告模板；

7.系統(tǒng)安全設(shè)置到別，配置有X射線警示燈、X射線鎖、紅色急停開(kāi)關(guān)、樣品室開(kāi)閉門(mén)傳感器、光閘傳感器、使用者和管理員分級(jí)密碼管理等；

8.貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)；

9.材料和合金元素分析；

10.材料鑒別和分類(lèi)檢測(cè)；

11.元素光譜定性分析

12.提供NIST認(rèn)證的鍍層標(biāo)準(zhǔn)片。