M系列全譜直讀光譜儀采用的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統(tǒng)，使儀器具有高性能、低成本、以及具竟爭力的價格。

M4應用于多基體的、高性能的全譜直讀光譜儀

01 極其優(yōu)異的分析性能、非常緊湊的儀器結構

02 用于多種基體、多種材料的分析，分析范圍覆蓋了幾乎所有的重要元素，可以滿足絕大多數現代鑄造業(yè)的應用需求。

03 高亮度全息光柵具備3600條/mm刻線，使得分光系統(tǒng)具有的分辯率。

04 氬氣吹掃光室配置了優(yōu)化設計的低流速吹氬系統(tǒng)，既保證低的使用成本又保證佳的紫外區(qū)的透過率。

05 應用高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)，低的暗電流、好的檢出限、高的穩(wěn)定性、強的靈敏度。

06 全數字化的智能復合光源DDD技術，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發(fā)要求。

07 一體式開放火花臺，可以滿足各種不同樣品結構的分析。

08 配置多條工廠校正曲線及更多的材料分析方法和解決方案。

09 可根據用戶的材料要求，延長標準曲線的測量上、下限。

精密設計的氬氣吹掃系統(tǒng)

光室密封性強，可保持內部氬氣長期純凈。

光室空間優(yōu)化設計，降低氬氣消耗，有效節(jié)約產生成本。

低氬氣吹掃系統(tǒng)，確保光室UV波段測量環(huán)境。

光室充氬免除復雜的真空系統(tǒng)。

高分辯率CMOS檢測器實現全譜分析

譜線覆蓋了所有的重要元素，滿足所有基體和材料的分析。

高靈敏的紫外區(qū)檢測，對N的分析檢測更準確。

可有效選擇元素靈敏線，保證分析的準確度。

多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精準測量。

分析軟件功能強大

1)        基于Windows系統(tǒng)的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件，方便實用；

2)        管理的控制整個測量過程及為用戶提供強大的數據處理能力和測試報告輸出能力；

3)        儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質分析及*解決方案；

4)        軟件實現全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力；

5)        完備的自動系統(tǒng)診斷功能；

6)        完善的數據庫管理功能，可方便查詢、匯總數據；

7)        智能校正算法，保證儀器穩(wěn)定可靠；

8)        完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析更為精準；

9)      適應的Windows操作系統(tǒng)。

應用領域

主要技術參數