顯微光譜測量系統(tǒng) MicroTEQ-S1

MicroTEQ-S1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構成，自由靈活，幫助用戶快速對樣品微觀結構，微觀光譜信息的測試和分析；此外系統(tǒng)可以加裝二維電控掃描臺，通過軟件控制，實現(xiàn)光譜二維掃面測量功能。

應用范圍

· 微流控；

· 植物葉片研究；

· 激光材料評價；

· 生物和細胞測試；

· 光子晶體測試；

· 珠寶、古籍檢測;

· 納米材料分析；

拉曼模式

拉曼探頭可直接插入顯微光譜測試模塊中，從而快速實現(xiàn)拉曼光譜測量。支持光譜范圍覆蓋400-1100nm，僅需通過更換探頭和激光器，便可實現(xiàn)488nm、532nm、633nm、785nm激發(fā)波長的拉曼光譜測量。

搭配便攜式拉曼光譜儀

顯微光譜測試模塊也能夠適配ACCUMAN SR 系列科研級便攜拉曼，即插即用的工作模式讓您不僅可以實現(xiàn)便攜的拉曼光譜測量，還可以更方便地在實驗室內(nèi)實現(xiàn)顯微拉曼光譜分析。

其他模式

· 熒光測量：顯微光譜測量模塊內(nèi)部集成了熒光測試光路，通過SMA905光纖接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強的激發(fā)功率或更好的光斑質(zhì)量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發(fā)波長的激發(fā)濾光片和發(fā)射濾光片，實現(xiàn)不同激發(fā)波長的顯微熒光測量。

· 顏色和反射測量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測量模塊連接起來，共用熒光光路，即可實現(xiàn)顯微反射光譜測量和顯微顏色測量功能。

二維Mapping：選配二維電動平臺，使用操作軟件設置面掃描采樣， 獲取一定范圍內(nèi)的逐點掃描光譜數(shù)據(jù)，可用于表征材料表面微觀結構和光譜成像。同時測試結果還可以通過圖像繪制的方式呈現(xiàn)出來。